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當前位置：北京中慧天誠科技有限公司>>技術文章>>干涉法線脹系數(shù)測定儀原理
本實驗是采用光的干涉法測量金屬的線脹系數(shù)。
實驗項目：
1.利用光的干涉測定線脹系數(shù)；
2.邁克爾遜干涉儀的調(diào)整與使用。
規(guī)格參數(shù)：
雙導軌、雙動鏡、平臺式
半導體激光器：波長625nm
溫控范圍：50-120℃，選擇
恒溫穩(wěn)定度：±0.1℃
測溫范圍：-50-125℃，精度±0.1℃
本實驗是采用光的干涉法測量金屬的線脹系數(shù)。
實驗項目：
1.利用光的干涉測定線脹系數(shù)；
2.邁克爾遜干涉儀的調(diào)整與使用。
規(guī)格參數(shù)：
雙導軌、雙動鏡、平臺式
半導體激光器：波長625nm
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恒溫穩(wěn)定度：±0.1℃
測溫范圍：-50-125℃，精度±0.1℃
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