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            北京東方圓通科技發(fā)展有限公司

            COMPANY DYNAMICS

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            熱釋光讀出器劑量系統(tǒng)視頻介紹
            發(fā)布時(shí)間:2023-02-13
            視頻簡介

               DF-2020D型熱釋光劑量系統(tǒng)讀出器可以對經(jīng)過X、γ、β、中子等射線輻照后的熱釋光探測器(簡稱探測器)進(jìn)行測量,給出讀出值與劑量值。熱釋光劑量讀出器具有自動(dòng)校準(zhǔn)、扣除本底、加溫參數(shù)設(shè)置和實(shí)時(shí)測量結(jié)果打印等功能。
               

            熱釋光讀出器劑量系統(tǒng)可與計(jì)算機(jī)連接,通過熱釋光劑量讀出器應(yīng)用軟件,在測量探測器的劑量時(shí),可實(shí)時(shí)給出探測器的發(fā)光曲線,通過顯示的發(fā)光曲線可以判別所選測量的靈敏度是否合適,能判別測量的數(shù)據(jù)的性,以及了解所用的探測器的性能與質(zhì)量。同時(shí)可以進(jìn)行數(shù)據(jù)管理、檢索、以及數(shù)據(jù)輸出。  

            熱釋光讀出器劑量系統(tǒng)主要技術(shù)性能:  
            光測量系統(tǒng)  
            ·劑量線性測量范圍LiF:Mg,Ti:10-5Gy~1Gy  
            LiF:Mg,Ti-M:2×10-5~500Gy  
            LiF:Mg,Cu,P:10-7Gy~12Gy  
            ·測量系統(tǒng)穩(wěn)定性≤0.2%  
            ·靈敏度重復(fù)性的變化系數(shù)≤0.1%±0.05%/℃  
            ·抽屜漏光量≤內(nèi)部光源量的0.1%  
            ·本底值≤300  
            ·高壓0~-1300V  
            加熱系統(tǒng)  
            ·加熱溫度范圍室溫~500℃  
            ·加熱溫度重復(fù)性≤1%  
            ·加熱溫度偏差≤±1℃  
            ·加熱時(shí)間0~500s  
            ·加熱時(shí)間重復(fù)性≤0.1%  
            ·加熱速率1~40℃·s-1  
            尺寸重量  
            ·外部尺寸(W×H×D)280mm×355mm×400mm  
            ·重量約20kg  
            工作環(huán)境  
            ·儲(chǔ)存溫度-35~50℃  
            ·工作溫度0~40℃(建議在實(shí)驗(yàn)室條件下使用)  
            ·相對濕度不大于65%±2%(環(huán)境溫度為25℃時(shí)、不結(jié)露)  
            ·電源交流220V±10%,50Hz  
            ·大功耗300W  
            使用條件  
            ·測量時(shí)無沖擊和振動(dòng)(相對穩(wěn)定)  
            ·LCD顯示應(yīng)避免強(qiáng)光照射  
            ·避免強(qiáng)電沖擊、電磁干擾  

            熱釋光劑量系統(tǒng)讀出器主要功能:
            ⑴中文菜單、數(shù)字顯示。  
            ⑵實(shí)時(shí)RS232通訊傳輸。  
            ⑶條碼掃描儀接口。  
            ⑷具有實(shí)時(shí)打印功能,打印實(shí)時(shí)測量結(jié)果。  
            ⑸抽屜拉出時(shí),自動(dòng)校準(zhǔn)。  
            ⑹加熱系統(tǒng)設(shè)置四種加熱參數(shù):線性、程序(一階段、兩階  
            段、三階段),用戶可通過面板上的鍵選擇和改變加熱參  
            數(shù)。本系統(tǒng)可同時(shí)設(shè)置和儲(chǔ)存10組加溫參數(shù)。  
            ⑺配置不同規(guī)格的加熱盤,可用于不同形狀、規(guī)格的熱釋光  
            探測器的測量,也可用于粉狀探測器的測量,測量時(shí)可根  
            據(jù)需要更換加熱盤。

            熱釋光讀出器


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