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恒溫恒濕試驗(yàn)箱的可靠性試驗(yàn)人為的差錯率
閱讀:737 發(fā)布時(shí)間:2019-12-20
恒溫恒濕試驗(yàn)箱的可靠性試驗(yàn)人為的差錯率
恒溫恒濕試驗(yàn)箱作為研究對象。恒溫恒濕試驗(yàn)箱是用來將芯片放在規(guī)定的溫度及濕度環(huán)境下,看芯片的耐高溫,耐低溫,以及抗?jié)穸刃阅?,由于人為的失誤,難免給分析結(jié)果帶來較大的差錯。因此,需要研究一種更為高效可靠的數(shù)據(jù)采集方法。恒溫恒濕設(shè)備試驗(yàn)人為差錯率可分為下列6種:
1、設(shè)計(jì)上的差錯,人類工程學(xué)原理的設(shè)計(jì),使得一旦操作失誤就會引起設(shè)備故障;
2、 工藝上的差錯,工藝不符合圖紙和工藝要求;
3、 檢驗(yàn)上的差錯,把不超過容許誤差的產(chǎn)品當(dāng)作不合格品,或把超過容許誤差的產(chǎn)品當(dāng)作合格品;
4、裝配和維修上的差錯,裝配和維修不符合圖紙和技術(shù)要求:
5、操作上的差錯,操作不合規(guī)定,遺漏了必要的操作步驟或增加了多余的操作步驟,顛倒了操作次序等;
6、處理以上的差錯,在高溫高濕試驗(yàn)機(jī)設(shè)備的運(yùn)輸?shù)劫A存等處理過程中產(chǎn)生的差錯。即使發(fā)生了以上差錯,系統(tǒng)也不一定馬上發(fā)生故障。但是,這些因素確實(shí)是使系統(tǒng)發(fā)生故障的原因。特別是必要的人員、設(shè)備、程序表、技術(shù)數(shù)據(jù)、后勤等要素不齊備,以及有關(guān)使用上的規(guī)定和程序不完備,是設(shè)備故障的主要原因。所以,在可靠性設(shè)計(jì)中要采取相應(yīng)的措施,防止人為故障的發(fā)生。特別是人的身體與健康狀態(tài),受到病理限制、生理限制、體力限制的影響,往往會造成差錯。所以對那些會因操作差錯而發(fā)生非常重大的事故的場合(如飛機(jī)駕駛等),必須確立對于有關(guān)操作人員健康狀況的某種標(biāo)準(zhǔn)。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱的溫濕度傳感器,溫度范圍:低溫0℃—70℃,低可達(dá)-150℃;高溫150℃。濕度范圍為: 20—98﹪R.H。主要的通訊端口為RS232 串口。于是,可以通過研究分析VC0020 的串口通信協(xié)議。