數(shù)顯磁性測(cè)厚儀應(yīng)用：
▲激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

▲X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

▲薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

▲涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

▲超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

數(shù)顯磁性測(cè)厚儀原理分類：
測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分：
▲點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
▲面接觸時(shí)測(cè)厚儀

2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種：
▲激光測(cè)厚儀
▲超聲波測(cè)厚儀
▲涂層測(cè)厚儀
▲X射線測(cè)厚儀
▲白光干涉測(cè)厚儀
▲電解式測(cè)厚儀

數(shù)顯磁性測(cè)厚儀用途：
該測(cè)厚儀測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。

數(shù)顯磁性測(cè)厚儀參數(shù)：
▲測(cè)量范圍： O-200μm。
▲執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。
▲測(cè)量精度：±（ 0.7μm 3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。

漆膜測(cè)厚儀檢校：
◆校驗(yàn)條件
1、溫度20±5℃，相對(duì)濕度50%-80%。
2、標(biāo)準(zhǔn)箔片47.8μm±1%、98.6μm±1%、257.2μm±1%、489μm±1%、1002μm±1%厚。
◆校驗(yàn)過程
1、取以上各種厚度的校準(zhǔn)箔片在未涂層的基體上，各測(cè)量5次，計(jì)算出測(cè)量平均值。
2、顯示值與標(biāo)準(zhǔn)箔片厚度值不符，用“Δ"和“▽"鍵改變顯示值直到顯示值與標(biāo)準(zhǔn)箔片厚度一致。
3、按CAL鍵，校正結(jié)束。
◆判定示值誤差，在±1%范圍內(nèi)為合格。
◆對(duì)校驗(yàn)過程進(jìn)行記錄并將記錄填寫在《監(jiān)視和測(cè)量設(shè)備校驗(yàn)記錄》上。
◆對(duì)校驗(yàn)合格的漆膜測(cè)量?jī)x貼合格證標(biāo)簽，不合格的則進(jìn)行修理、調(diào)試，完后重新校驗(yàn)。
◆校驗(yàn)周期為一年。

簡(jiǎn)介：
該儀器測(cè)定油漆涂料干膜厚度。試驗(yàn)技術(shù)特征：通過涂覆前后的比較測(cè)量干膜厚度。

參數(shù)：
◆千分表精度：1μm。
◆測(cè)量范圍：0-1000μm。
◆執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO2808-74 GB/T134522-92 GB/T1764-79。

注意事項(xiàng)：
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng)：
◆在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
◆測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
◆測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
◆測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
◆測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
◆測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
◆在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
◆在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。