美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀
Microtrac噴霧粒度分析儀技術參數(shù):
測量范圍:0.5um一2,000um
測量方法:靜態(tài)激光衍射分析技術,全量程米氏理論處理
系統(tǒng)自動對焦,實時檢測,分析時間短
自動觸發(fā),可實現(xiàn)脈沖噴霧測量
數(shù)據(jù)處理靈活方便,兼容Windows系列版本
可選型號:SPR3500A(標準型),SPR1500A(大角度)
可選附件干法噴霧器(PD--10S),濕法分散器(SC一13),運動底座(MB-600)
美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀
美國麥奇克有限公司(Microtrac Inc.)是世界上有名的激光應用技術研究和制造廠商,其良好的激光粒度分析儀已廣泛應用于水泥,磨料,冶金,制藥,石油,石化,陶瓷,軍工等領域,并成為眾多行業(yè)的質量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術創(chuàng)新,近半個世紀以來,一直著激光粒度分析的前沿技術,可靠的產(chǎn)品和強大的應用支持及完善的售后服務,使得其不斷超越自我,推陳出新,。麥奇克Microtrac以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的獨到見解,經(jīng)過多年的市場調研和潛心研究,開發(fā)出一代Zetatrac微電場分析技術,融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體,無需傳統(tǒng)的比色皿,一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術相比,Zetatrac采用良好的“Y"型光纖探針光路設計,配置膜電極產(chǎn)生微電場,操作簡單,測量迅速,無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,*消除由于空間位阻(不同光學元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質的影響,顆粒間多重散射等)帶來的光學信號的損失,結果準確可靠,重現(xiàn)性好。
美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀
天津西納貿易有限公司由熟悉歐洲工業(yè)體系和精通營銷的海外歸國團隊于2012年創(chuàng)辦。公司專注于歐洲工業(yè)品在中國的平臺化供應,專業(yè)為鋼鐵、有色金屬、電力、石化、采礦、汽車、機械設備、電氣儀表、食品飲料、橡膠制品、醫(yī)藥、紡織、造紙、印刷、水泥、玻璃、環(huán)境設備等生產(chǎn)制造型企業(yè)提供歐洲高品質工業(yè)產(chǎn)品、成套設備和技術應用服務。
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1、KELLER美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀
測溫儀:CellaTemp PK 21 AF 1
電纜-測溫儀:VK 02/L AF 1
2、PERMA
自動注油器:100800 Star LC M120 mit Staburags NBU12/300KP SF32
3、FISCHER
壓差開關/壓差變送器:DS21030W01AK0W00
壓差開關/壓差變送器:DE45D70040PK06MWR0500
壓差開關/壓差變送器:DE45D90040PK06MWR0500
壓差開關/壓差變送器:DE45N30040PK06MWR0500
4、FEZER
真空吸盤:VZSP-FSD200Z-EPDM-G
5、Gather
泵:2MA-J/8/G-SS/IG12/DLC/ Artikel-Nr.: 28521
6、GEMUE
球閥:615 10D17341311/N 1500
安裝支架:1216S01Z05100012 F. INITIATOREN M12X1
7、JANITZA
電能表:UMG 96 RM-P für
8、EFFBE
氣墊:SLM 12B M12*90 FB61026214
9、TAPFLO
氣動隔膜泵:TR20TTT-7PV PET/FKM Steuerventil
我公司是一家集研發(fā)、工程、銷售、技術服務于一體的現(xiàn)代化企業(yè),是國內自動化領域競爭力的設備供應商。專業(yè)采購歐洲工控產(chǎn)品、備品備件,擁有很大的優(yōu)勢:
1、總部位于德國,產(chǎn)品源頭采購,*。
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