四探針電阻率測(cè)試儀檢測(cè)條件

　　本規(guī)程適用于新生產(chǎn)、使用中和修理后的接觸式測(cè)量范圍在0.001～103Ω·cm的電阻率測(cè)試儀的檢定。對(duì)某些多功能的測(cè)試或只能測(cè)方塊電阻的測(cè)試儀也同樣適用，方塊電阻的測(cè)量范圍在0.01～104Ω/□。本規(guī)程不適用于二探針、三探針和六探針以及方形探頭電阻率測(cè)試儀。

　　四探針電阻率測(cè)試儀概述

　　四探針電阻率測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料及工藝硅片的電阻率，或擴(kuò)散層及外延層方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣部分和探頭部分組成，電氣部分一般包括穩(wěn)流源、數(shù)字電壓表或電位差計(jì)、換向開關(guān)等儀器。探頭部分一般包括探針架、探針頭和樣品臺(tái)。

　　1-穩(wěn)流源;2-換向開關(guān);3-標(biāo)準(zhǔn)電阻;4-探針接線;5-無(wú)熱電勢(shì)開關(guān);6-數(shù)字電壓表;7-被測(cè)樣品

　　1-微型計(jì)算機(jī)部分;2-電氣箱部分;3-手動(dòng)升降機(jī)構(gòu)、探針架、探針頭及樣品臺(tái)部分

　　四探針電阻率測(cè)試儀檢定環(huán)境條件

　　四探針電阻率測(cè)試儀應(yīng)在恒溫清潔室內(nèi)進(jìn)行，檢定具體要求見表3。檢定前，儀器和所用的標(biāo)準(zhǔn)儀器設(shè)備應(yīng)在恒溫室內(nèi)旋轉(zhuǎn)12h以上。

　　*在檢定過(guò)程中發(fā)現(xiàn)有靜電感應(yīng)或泄漏電流的現(xiàn)象，則應(yīng)采取相應(yīng)的屏蔽或接地措施消除。