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粉體流動性測試儀主機 通過測試休止角（安息角）、定質(zhì)量流速、定體積流速、表觀密度、松裝比、體積密度、堆積密度及松散密度等數(shù)據(jù)來評定粉末流動能力；采用多規(guī)格可更換...

智能型方阻測試儀大顯示屏，直觀度數(shù)，穩(wěn)定性好，可以外接其他控制單元，與其他系統(tǒng)集成使用。適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜；導電（...

導電布方塊電阻測試儀，參照標準GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》.GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.GB/T155...

高溫雙電測四探針方阻測試儀使用說明，采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半...

合金粉安息角測定儀測定方法，將足夠滿溢料盤的粉塵從漏斗口注入到水平料盤上；測量粉塵堆積斜面與底部水平面所夾銳角，即粉塵安息角。

接觸壓降測試儀 廣泛用于測量開關(guān)觸點、繼電器、汽車開關(guān)、汽車線束、壓接線端子、連接器、不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電壓降...

粉末和顆粒休止角測試儀使用方法，用休止角評價粉體的流動性能，只能表示流動性的好壞，或者用于比較同種粉體因水分和粒度等引起的流動性差別。休止角常用的方法是固定圓錐...

FT-102D粉體綜合特性測試儀使用Hausner Ratio豪斯納比和壓縮性指數(shù)來評定粉體的流動性，還可以通過休止角或者安息角數(shù)據(jù)，定質(zhì)量法和定體積法獲得粉體...

鋰電池壓實密度測定儀操作配置清單,粉末壓實密度儀鋰離子動力電池在制作過程中.在外力的壓縮過程中，隨著粉末的移動和變形，較大的空隙被填充，顆粒間接觸面積，使原子間...

維生素粉體流動性和密度測量儀，在實際生產(chǎn)科研中，粒子間的粘著力、摩擦力、范德華力、靜電力等作用阻礙粒子的自由流動，影響粉體的流動性，粉體難以自然流動常常伴隨著，...

化工助劑粉體流速測試儀檢測方法，本機采用固定的接料筒配置不同出口孔徑之漏斗來解決不同粉體因粉體本身物性而流動性差，無法流動現(xiàn)象

谷物粉末流動性測試儀樣品檢測， 粉體的流動性測量在粉體工程設計中應用范圍很廣，粉體的流動性對其生產(chǎn)、輸送、儲存、裝填以及工業(yè)中的粉末冶金、醫(yī)藥中不同組分的混合、...

雙電四探針方阻測試儀分析方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料四...

硅片四探針電導率測試儀操作方法，參照標準：硅片電阻率測量的標準（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》.

導電性薄膜方阻測試儀測定方法，按標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率...

四探針方塊電阻測試儀怎么用，軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度

涂層四探針電阻率測試儀現(xiàn)貨，參照 GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及US...

ITO導電箔膜四探針方阻測試儀操作步驟， 改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更...

高溫電阻率測試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理，高溫電阻率測試系統(tǒng) 生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量。用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺...

高溫四探針電阻率測試儀樣品檢測， 采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控。用于：企業(yè)、高等院校、科研部...