芯片溫度測試變化試驗箱
升溫時間(平均/min) | 非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃） |
降溫時間(平均/min) | 非線性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃） |
芯片溫度測試變化試驗箱
1 、 試驗箱結構設計新穎合理，配套產(chǎn)品和功能元器件具有較高水平，能夠適 應長期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)需求。能夠滿足用戶為從事上述用途的加工生產(chǎn)要 求，且使用、操作、維修方便，使用壽命長，造型美觀，有良好的用戶界面，使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀。
2、 設備主要部件選用國際品牌廠家的產(chǎn)品，確保整機的質量和性能。
3 、 設備性能完善、人機對話功能簡便易操作。
4、擁有自主知識產(chǎn)權和外觀設計以及掌握環(huán)境試驗箱核心技術
5、控制儀表采用日本*"優(yōu)易控"UMC1200，可實行遠程監(jiān)控
6、制冷系統(tǒng)采用法國原裝泰康壓縮機組，并配有凝結水接水盤
7、核心電氣元器件均采用施耐德等
8、沿襲國外環(huán)境試驗設備*設計理念，水電分離
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