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            深圳市金厚德電子科技有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第13年

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            吉時(shí)利2410測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對(duì)測量的影響)

            時(shí)間:2019/7/11閱讀:1311
            分享:

            吉時(shí)利2410 SourceMeter SMU 儀器,測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對(duì)測量的影響)

            問題:

            吉時(shí)利2410 SourceMeter SMU 儀器,測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對(duì)測量的影響)

            回答:

            4200系統(tǒng)測量時(shí)可以直接進(jìn)行處理使得電荷放電至地點(diǎn)。
            單臺(tái)源表做類似測量時(shí),先加載0V電壓源測量I,將線路導(dǎo)通放電;延遲一段時(shí)間后,在加載需要的電壓進(jìn)行正常的測量。

            此常見問題適用于:

            Product Series: Keithley SMU 2400 圖形系列 SourceMeter2400 系列 SMU

            Product: 2400

            常見問題ID : 473396

             

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