目錄:上海爾迪儀器科技有限公司>>bruker>>光學輪廓儀>> bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 產(chǎn)品種類 | 接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 100萬-200萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,綜合 |
| 重量 | 67kg | 垂直分辨率 | <0.01 nm |
| 樣品高度 | ≤100 mm (4 in.) | XY樣品臺 | 150mm |
| Z軸聚焦 | 自動 | 臺階高度準確性 | <0.75% |
| 放大器 | 0.55X，,075X,1X,1.5X,2X | 尺寸 | 480mmx604mmx754mm |
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性，可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設(shè)備作為可用于計量的小尺寸系統(tǒng)，配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200還配有業(yè)界先進的操作和分析軟Vision64。新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫(yī)療設(shè)備，MEMS和摩擦學等領(lǐng)域的測量分析。
優(yōu)質(zhì)的測量與分析功能
·易于使用的界面，可快速準確地獲得結(jié)果
·自動化功能用于日常測量和分析
·廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析
·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內(nèi)的定制化分析報告
先進計量設(shè)備
·基于超過四十年的專有WLI創(chuàng)新，ContourX-200光學輪廓儀展現(xiàn)出定量計量所需的低噪聲、高速、高精度的準確結(jié)果。
·通過使用多個鏡頭和集成的特征識別功能，設(shè)備可以在各種視野內(nèi)以亞納米垂直分辨率跟蹤特征，可用于各種不同行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用。
高性能表面計量
·放大倍率無關(guān)的業(yè)界好Z軸分辨率
·大尺寸的標準視場
·穩(wěn)定集成防震設(shè)計
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