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            上海精科紫外可見分光光度計UV760CRT
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            • 上海精科紫外可見分光光度計UV760CRT

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            貨物所在地: 上海上海市
            產(chǎn)地: 上海
            更新時間: 2024-11-18 21:00:07
            期: 2024年11月18日--2025年5月18日
            已獲點擊: 178
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            (聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!)

            產(chǎn)品簡介

            產(chǎn)品描述
            主要特點:
            ● 采用全息閃耀光柵,雙光束C-T式光路結構,高分辨率,低雜散光,測光精度高,穩(wěn)定性能好。
            ● 微機控制,自動記錄,打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
            ● 光源自動轉換(可在294nm~364nm間任意設定)
            ● 功能*的光譜處理能力。

            詳細介紹

            上海精科紫外可見分光光度計UV760CRT

            生產(chǎn)廠家:F|上分廠|上海精科|上海儀電分析儀器有限公司

            狹縫可調 :

            掃描功能 :

            波長范圍 :190-900nm

            參考價格:68000

            產(chǎn)品描述

            主要特點:
            ● 采用全息閃耀光柵,雙光束C-T式光路結構,高分辨率,低雜散光,測光精度高,穩(wěn)定性能好。
            ● 微機控制,自動記錄,打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
            ● 光源自動轉換(可在294nm~364nm間任意設定)
            ● 功能*的光譜處理能力。

            軟件特點:
            ● 信息存貯容量大,保存方便。
            ● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜,可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描,透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉換,對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導數(shù)運算。
            ● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
            ● 時間掃描可進行動力學研究。
            ● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定,3λ提供了自動的波長設定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。
            ● 軟件提供了定波長和多波長測試,并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋,對同一樣品多用戶的測試提供了方便,多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。
            ● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設置為儀器當前測試條件。
            ● 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。

            技術指標:
            ● 測光方式:雙光束C-T式光路結構,全息閃耀光柵分光器,光電倍增管檢測。
            ● 波長范圍:190nm~900nm
            ● 分辯率:優(yōu)于0.15nm
            ● 光譜帶寬:0.08nm~5nm間隔0.01nm連續(xù)可調
            ● 波長zui大允許誤差:±0.3nm(內裝自動波長校正裝置)
            ● 波長重復性:0.2nm
            ● 雜散光:≤0.08%(T)(以NaI溶液在220nm處)
            ● 透射比zui大允許誤差:±0.3%τ(以NBS930D測定)
            ● 透射比重復性:0.2%(T)
            ● 掃描速度:快、中、慢
            ● 穩(wěn)定性:≤±0.004A/30min
            ● 噪聲:±0.3%(*處) ±0.1%(0%處) 

             

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