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            上海冉超光電科技有限公司

            涂層測厚儀測量時的注意事項

            時間:2014-4-3 閱讀:2307
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            涂層測厚儀測量時的注意事項:

            1、基體金屬特性:對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

            2、基體金屬厚度:檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,進行校準后,再進行測量。

            3、邊緣效應:不應在緊靠試件的突變處(如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處)進行測量。

            4、曲率:不應在試件的彎曲表面上測量。

            5、讀數(shù)次數(shù):由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部存在差異,所以在一給定的面積內(nèi)要進行多次測量,表面粗造時更應如此。

            6、表面清潔度:測量前,應清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

            7、磁場:周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的磁場會嚴重干擾磁性測厚工作。 

            8、測頭取向:測頭的放置方式對測量結(jié)果有影響,在測量時應該與工件保持垂直方向。   

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