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            行業(yè)產(chǎn)品

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            [供應(yīng)]M-3型便攜式-四探針電阻率
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            • M-3型便攜式-四探針電阻率
            貨物所在地:
            福建泉州市
            產(chǎn)地:
            福建省泉州市南安市官橋鎮(zhèn)金橋社
            更新時(shí)間:
            2024-03-11 21:00:20
            有效期:
            2024年3月11日 -- 2024年9月11日
            已獲點(diǎn)擊:
            89
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            四探針電阻率 數(shù)字型電阻測(cè)量?jī)x表M-3型便攜式探測(cè)儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價(jià)比測(cè)量?jī)x器,標(biāo)準(zhǔn)配套組合由M-3型主機(jī)、選配的四探針探頭等第二部分組成,也可加配測(cè)試臺(tái)當(dāng)臺(tái)式機(jī)使用,跨境包裹重約0.3kg屬于加工定制是數(shù)字式電阻測(cè)量?jī)x表,測(cè)試電壓3.5(V),精度在0.5-1%左右,環(huán)境溫度0到35度,相對(duì)濕度小于等于75,校準(zhǔn)周期在一年或一年以內(nèi)。

            詳細(xì)介紹

            1.jpg

            優(yōu)勢(shì)特征:

            1美觀適用:彩色流線型手持式面板、帶防滑墊,符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)。適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用,也可以定制小型旅行手提箱包裝,便于野外或旅行使用。

            2高精度:帶完善厚度、形狀修正功能,測(cè)試精準(zhǔn)。同行中手持式多為簡(jiǎn)易程序,沒(méi)有完整修正功能,無(wú)法修正誤差。

            3寬量程:超寬五個(gè)檔位,相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程,同行中手持式多為兩到三個(gè)檔位,測(cè)試范圍有限,適應(yīng)性不廣。

            4操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定:輕觸數(shù)字化鍵盤實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,簡(jiǎn)便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定易受干擾。

            5手動(dòng)/自動(dòng)- -體化

            6顯示方式美觀清晰:由高亮綠色數(shù)碼和L E D數(shù)字表頭顯示,不怕環(huán)境背景暗或野外強(qiáng)光;

            7待機(jī)和工作時(shí)間長(zhǎng)(不小于兩天),有大容量可充電鋰電池電池供電,環(huán)保耐用。

            探頭選配

            根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。

            ①配高耐磨的碳化鎢探針探頭,如ST2253-F01型,以測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;

            ②配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭,如ST2558B-F01型,可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、IT0膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。

            ③配專用箔上涂層探頭,如ST2558B-F02型,也可測(cè)試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

            ④換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器的體電阻進(jìn)行測(cè)量。

            測(cè)試臺(tái)選配:根據(jù)不同材料特性需要,測(cè)試臺(tái)可有多款選配。四探針?lè)y(cè)試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型(電動(dòng))或SZT-C型(快速恒壓)測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試細(xì)長(zhǎng)棒類材料選配SZT-K型測(cè)試臺(tái).平行四刀法測(cè)試橡塑材料選配SZT-G型測(cè)試臺(tái)。

            適用范圍:手持式使用,儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校四探針?lè)▽?duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。



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