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            目錄:深圳華普通用科技有限公司>>X射線熒光光譜儀>>日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀>> ZSX Primus 400日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀

            日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀
            • 日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀
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            參考價面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            參考價:¥ 面議

            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • Rigaku/理學(xué) 品牌
            • ZSX Primus 400 型號
            • 代理商 廠商性質(zhì)
            • 深圳市 所在地
            規(guī)格

            屬性

            價格區(qū)間:面議 行業(yè)專用類型:地質(zhì)巖礦 儀器種類:臺式/落地式 應(yīng)用領(lǐng)域:化工,石油,地礦,鋼鐵/金屬,汽車及零部件

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            更新時間:2024-04-09 18:25:36瀏覽次數(shù):1089評價

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            日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計,非常適合分析濺射靶材、磁盤,或用于多層薄膜計量或大型樣品的元素分析。

            日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400產(chǎn)品描述:

            Rigaku ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計。該系統(tǒng)可接受直徑最大為 400 毫米、厚度為 50 毫米和質(zhì)量為 30 千克的樣品,非常適合分析濺射靶材、磁盤,或用于多層薄膜計量或大型樣品的元素分析。

            連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀

            優(yōu)點:

            帶有定制樣品適配器系統(tǒng)的 XRF,適應(yīng)特定樣品分析需求的多功能性,可使用可選適配器插件適應(yīng)各種樣品尺寸和形狀。憑借可變測量點(直徑 30 毫米至 0.5 毫米,具有 5 步自動選擇)和具有多點測量的映射功能以檢查樣品均勻性。

            具有可用相機和特殊照明的 XRF,可選的實時攝像頭允許在軟件中查看分析區(qū)域。

            仍保留了傳統(tǒng)儀器的所有分析能力。

            安全性:

            采用上照射設(shè)計,樣品室可簡單移出,再不用擔(dān)心污染光路,清理麻煩和增加清理時間等問題。

            應(yīng)用領(lǐng)域:

            固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析。

            濺射靶材組成。

            隔離膜:SiO2、BPSG、PSG、AsSG、Si?N?、SiOF、SiON等。

            高 k 和鐵電介質(zhì)薄膜:PZT、BST、SBT、Ta2O5、HfSiOx。

            金屬薄膜:Al-Cu-Si、W、TiW、Co、TiN、TaN、Ta-Al、Ir、Pt、Ru、Au、Ni等。

            電極膜:摻雜多晶硅(摻雜劑:B、N、O、P、As)、非晶硅、WSix、Pt等。

            其他摻雜薄膜(As、P)、困惰性氣體(Ne、Ar、Kr等)、C(DLC)。

            鐵電薄膜、FRAM、MRAM、GMR、TMR;PCM、GST、GeTe。

            焊料凸點成分:SnAg、SnAgCuNi。

            MEMS:ZnO、AlN、PZT的厚度和成分。

            SAW器件工藝:AlN、ZnO、ZnS、SiO 2(壓電薄膜)的厚度和成分;Al、AlCu、AlSc、AlTi(電極膜)。

            日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400技術(shù)參數(shù):

            大樣本分析:最大 400 毫米(直徑),最大 50 毫米(厚度),高達 30 千克(質(zhì)量)

            樣品適配器系統(tǒng),適用于各種樣本量

            測量點:30 毫米至 0.5 毫米直徑,5步自動選擇

            映射能力,允許多點測量

            樣品視圖相機(可選)

            分析范圍:Be - U

            元素范圍:ppm 至 %

            厚度范圍:sub ? 至 mm

            衍射干擾抑制(可選):單晶襯底的準(zhǔn)確結(jié)果

            符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):SEMI、CE標(biāo)志

            占地面積小,以前型號的 50% 占地面積

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