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            德國(guó)蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma
            • 德國(guó)蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma

            貨物所在地:廣東深圳市

            更新時(shí)間:2025-04-18 13:55:05

            瀏覽次數(shù):388

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            德國(guó)蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma
            用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

            靈活的探測(cè),4步工作流程,高級(jí)的分析性能
            將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。
            Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配

            德國(guó)蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma

            用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

            靈活的探測(cè),4步工作流程,高級(jí)的分析性能

            將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。
            Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有yi流的背散射幾何探測(cè)器,可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間,任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。


            纖維,在傷口護(hù)理中敷的抗菌藥

            ▲用于清晰成像的靈活探測(cè)

            利用*探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。

            利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。

            利用新一代的二次探測(cè)器,獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器,在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。




            Sigma 的 4 步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間

            自動(dòng)化加速工作流程

             4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。

             首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。

             接下來(lái)對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。最后使用工作流程的最后一步,將結(jié)果可視化。



            高級(jí)分析型顯微鏡

             將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合:Sigma yi流的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能,特別是對(duì)電子束敏感的樣品。

             在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

             獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無(wú)陰影的分析結(jié)果。


            配件

            SmartEDX

              為您帶來(lái)一體化能譜分析解決方案

             單采用SEM成像技術(shù)無(wú)法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來(lái)進(jìn)行顯微分析。通過(guò)針對(duì)低電壓應(yīng)用而優(yōu)化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學(xué)成分的空間分布信息。得益于:

             優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應(yīng)用,并且由于氮化硅窗口優(yōu)秀的透過(guò)率,可以探測(cè)輕元素的低能X射線。

            工作流程引導(dǎo)的圖形用戶界面極大地改善了易用性,以及多用戶環(huán)境中的重復(fù)性。    完整的服務(wù)和系統(tǒng)支持,由蔡司工程師為您的安裝、預(yù)防性維護(hù)及保修提供一站式服務(wù)。



            拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

            *集成化的拉曼成像

            在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結(jié)果,獲得材料更豐富的表征信息。通過(guò)擴(kuò)展蔡司Sigma 300,使其具備共聚焦拉曼成像功能,您能夠獲得樣品中獨(dú)yi無(wú)二的化學(xué)指紋信息,從而指認(rèn)其成分。

            識(shí)別分子和晶體結(jié)構(gòu)信息

            可進(jìn)行3D分析,在需要時(shí)可關(guān)聯(lián)SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數(shù)據(jù)。

            *集成RISE讓您體驗(yàn)由*SEM和拉曼系統(tǒng)帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)。



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