奧林巴斯全聚焦相控陣的幾個關(guān)鍵技術(shù)
包絡(luò)功能
這是全聚焦檢測技術(shù)的一個重要功能,啟用了包絡(luò)功能后,儀器在使用包絡(luò)功能進行探測之前,儀器軟件的全聚焦方式(TFM)算法既會提取信號的真實分量,也會提取信號的理論分量,并將兩者結(jié)合起來完成計算。
這種處理方式有助于確保不丟失數(shù)據(jù),可清除噪聲和偽影,還可以對圖像進行微調(diào)。在所生成的圖像中,缺陷的聚焦程度更高,因而更容易對缺陷的形狀和大小進行表征。
高溫氫致缺陷(HTHA)
是一種隱藏性很強的腐蝕缺陷,高溫下的鋼材料如果接觸到氫元素就可能逐漸生發(fā)出這種缺陷,如:煉油廠或石化廠的箱罐或管道。
使用帶有包絡(luò)功能的全聚焦方式(TFM)進行成像,可使HTHA缺陷顯示更加直觀,檢測人員可以確認(rèn)他們對存在早期高溫氫致缺陷的懷疑是否正確,從而可以采取措施,避免故障的發(fā)生。
多組全聚焦模式同時采集,
也是非常重要的一個能力。因為之前幾期講過,不同模式對應(yīng)著不同的缺陷類型,比如3T用于檢測下表面裂紋,5T用于檢測上表面裂紋。
這樣的話,需要同時采集多組模式才能把不同類型缺陷完整展現(xiàn),因而多組全聚焦模式采集成為必要。
單文件存儲能力
也是全聚焦檢測的一個重要影響因素,由于全聚焦技術(shù)的數(shù)據(jù)量非常龐大,因而如何能夠存儲如此大尺寸的數(shù)據(jù)成為一個挑戰(zhàn)。
如果一個25GB的單文件,可以使用4組TFM設(shè)置,單次掃查10m長的焊縫,而無需停機再保存,每個TFM圖像像素點數(shù)462 X 385.
由于TFM/FMC的激發(fā)過程是依次激發(fā)每個晶片,并進行接收,因此總的激發(fā)次數(shù)遠(yuǎn)大于常規(guī)的相控陣檢測,這就需要一個較高的PRF來支撐這樣的操作,否則將嚴(yán)重影響檢測速度。
20KHz
COD檢測即縱向的焊縫檢測,
這種模式下也可以進行全聚焦檢測。COD的全聚焦檢測的路徑規(guī)劃和聲時計算更加復(fù)雜,因而對儀器的軟件算法能力要求也更高。
上面的幾個技術(shù)關(guān)鍵點大家了解清楚以后,后面會給大家介紹全聚焦與PAUT之間的技術(shù)比較,希望通過這個比較讓大家明白每種技術(shù)優(yōu)劣勢,以便于更好地使用這些技術(shù)。