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            北京新興日祥科技發(fā)展有限公司>>技術(shù)文章>>應(yīng)用案例丨奧林巴斯相控陣探傷儀3關(guān)于304 不銹鋼的工件檢測(cè)

            應(yīng)用案例丨奧林巴斯相控陣探傷儀3關(guān)于304 不銹鋼的工件檢測(cè)

            閱讀:1910        發(fā)布時(shí)間:2022-5-13

            不銹鋼無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用背景:

            304不銹鋼管按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定采用萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)測(cè)試的機(jī)械和工藝性能例如:拉力、壓扁、擴(kuò)口試驗(yàn)等;用金相顯微鏡所作的晶間腐蝕檢測(cè);用化學(xué)分析法所測(cè)的Fe、Cr、Ni、Mo等元素成分分析等,都需要截取、鉆取和對(duì)試樣進(jìn)行加工后測(cè)試,屬于破壞性檢查。

            因此使用無(wú)損探傷技術(shù),它不會(huì)破壞工件的結(jié)構(gòu)和使用性,不但能達(dá)到合理利用材料的目的,而且對(duì)所有工件可以進(jìn)行逐一的,或是全面檢查,大大提高了工件質(zhì)量的可靠性,而破壞性檢查只能是抽樣檢查,而且材料損耗也較大。

            本次,以?shī)W林巴斯相控陣探傷儀Omni Scan X3為例,為大家展示304不銹鋼檢測(cè)過(guò)程。

            檢測(cè)對(duì)象概述

            材質(zhì):本次工件為 304 不銹鋼試塊:曲面檢測(cè)試塊(T2122552)

            厚度:塊總體高度 100mm,缺陷距離探頭接觸面深度為 70mm

            制作工藝:環(huán)形試塊(T2122550),分別刻有 0.5mm、1mm、1.5mm 相同深度的圓形缺陷




            檢測(cè)設(shè)備配置

            主機(jī): 奧林巴斯相控陣探傷儀 Omni Scan X3 32:128PR

            探頭: 奧林巴斯相控陣探頭 5L32-A32,無(wú)楔塊,全聚焦檢測(cè)

            儀器特點(diǎn)


            奧林巴斯相控陣探傷儀 Omni Scan X3所提供的功能有助于用戶(hù)高效地完成檢測(cè)工作。這些功能可以在以下應(yīng)用中大顯身手:焊縫檢測(cè)、管線(xiàn)和管道的檢測(cè)、耐腐蝕合金的檢測(cè)、腐蝕成像、高溫氫致缺陷(HTHA)的檢測(cè)、初期裂紋的探測(cè)、復(fù)合材料的檢測(cè)和缺陷成像。


            主要特性:

            • 顯示超微細(xì)節(jié)的TFM(全聚焦方式圖像 ,全聚焦方式(TFM)包絡(luò)處理功能,高達(dá)1024X1024的網(wǎng)絡(luò)分辨率。


            • 探測(cè)到早期的高溫氫致(HTHA)缺陷


            • 提前確認(rèn)覆蓋區(qū)域可以最多顯示4個(gè)不同角度的TFM模式圖像,便于解讀缺陷和定量缺陷


            • 提升效率和創(chuàng)新特性,單獨(dú)的衍射時(shí)差(TOFD)菜單,800%的高波福范圍,減少了重 新掃描的需要


            • 與現(xiàn)有文件和設(shè)置相兼容


            • 迅速地投入到檢測(cè)工作中


            • 具備應(yīng)對(duì)嚴(yán)峻挑戰(zhàn)的能力,最大25GB文件容量


            • 符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn),防雨防塵


            應(yīng)用檢測(cè)結(jié)果


            通過(guò)奧林巴斯探傷儀 Omni Scan X3全聚焦檢測(cè),搭配使用相控陣探頭 5L32-A32 檢測(cè)結(jié)果如下 :


            1、在回波視圖中,看到明顯的直徑 1.5mm 圓形缺陷的回波信號(hào)



            2、下圖為直徑 1mm 的圓形缺陷孔的缺陷回波信號(hào)



            3、下圖為圓形缺陷 0.5mm 的缺陷回波信號(hào)



            應(yīng)用檢測(cè)結(jié)論


            經(jīng)多次反復(fù)對(duì)比實(shí)驗(yàn)得出結(jié)論:


            使用 奧林巴斯相控陣探傷儀 Omni scan X3,32 晶片,并搭配A32 探頭;使用全聚焦檢測(cè)模式能非常明顯的發(fā)現(xiàn)環(huán)形試塊(T2122552)中 70mm 位置處 0.5mm、1mm、1.5mm 相同深度的圓形缺陷。



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