為您帶來高速度、高效率、高精度測(cè)厚體驗(yàn)的奧林巴斯72DL PLUS超聲測(cè)厚儀，現(xiàn)已面世。

儀器特點(diǎn)

主要特性：

• 更大更清晰的屏幕: 7in 高分辨率觸摸屏WVGA 顯示

• 新及改進(jìn)測(cè)量算法：脈沖重復(fù)頻率達(dá)2KHz

• 提前確認(rèn)覆蓋區(qū)域可以最多顯示4個(gè)不同角度的TFM模式圖像，便于解讀缺陷和定量缺陷

• 強(qiáng)大多層測(cè)量軟件：可以同時(shí)測(cè)量6個(gè)層間厚度

• 提升效率和創(chuàng)新特性，單獨(dú)的衍射時(shí)差（TOFD）菜單，800%的高波福范圍，減少了重新掃描的需要

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• 新最小極限：可以達(dá)到20µm （0.0008英寸）

• 與現(xiàn)有文件和設(shè)置相兼容

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• 簡(jiǎn)單應(yīng)用設(shè)置：對(duì)于日常檢測(cè)，可以預(yù)存特制應(yīng)用文件，減小設(shè)置時(shí)間

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• PC界面應(yīng)用：工作流，檢測(cè)管理，報(bào)警設(shè)置及數(shù)據(jù)分析的工廠集成化

• 連接：支持無線局域網(wǎng)及藍(lán)牙

• 支持云：無線連接至OSC （奧林巴斯科學(xué)云）

• 防護(hù): 設(shè)計(jì)符合IP65

厚度測(cè)量達(dá)到實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量水平，

堅(jiān)固耐用適用于生產(chǎn)車間

奧林巴斯72DL PLUS超聲測(cè)厚儀小巧便攜、易于使用，可以提供可靠的厚度測(cè)量值。該測(cè)厚儀具備快速掃查、高級(jí)算法和奧林巴斯迄今為止測(cè)量最小厚度的能力，可使您充滿信心地測(cè)量超薄層的厚度，完成具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。

72DL PLUS測(cè)厚儀提供標(biāo)準(zhǔn)頻率和高頻率兩種型號(hào)。高頻率型號(hào)可以測(cè)量超薄材料，包括多層漆料、塑料、金屬和涂層，其多層測(cè)量軟件可以同時(shí)顯示最多六個(gè)獨(dú)立層的厚度。所有72DL PLUS型號(hào)都具有快速、準(zhǔn)確測(cè)量厚度的功能。

界面直觀，

大尺寸屏幕易于觀看

奧林巴斯72DL PLUS超聲測(cè)厚儀具備寬廣的視角，在大多數(shù)環(huán)境條件下都具有出色的可視性。177.8毫米全彩觸摸屏可以訪問設(shè)置和測(cè)量布局，引導(dǎo)式配置可以根據(jù)您的需要輕松更改設(shè)置。

與高頻探頭配套使用，

保證性能的同時(shí)堅(jiān)固可靠

奧林巴斯72DL PLUS超聲測(cè)厚儀可與頻率高達(dá)125 MHz的奧林巴斯單晶超聲探頭相兼容，標(biāo)準(zhǔn)頻率型號(hào)的測(cè)厚儀可與頻率范圍在0.2–30 MHz的探頭配套使用，高速測(cè)量材料厚度，并快速提供測(cè)量結(jié)果。高頻率型號(hào)的測(cè)厚儀可與頻率范圍在20–125 MHz的探頭配套使用，測(cè)量超薄和多層材料

設(shè)計(jì)符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)：防塵、防潮通過了墜落測(cè)試（MIL-STD-810G），可避免測(cè)厚儀在墜落時(shí)受到損壞，從而減少了高成本維修的需求，并可在-10°C至50°C的寬工作溫度范圍內(nèi)進(jìn)行可靠的測(cè)量。重量為2.1公斤，輕盈便攜，適用于生產(chǎn)車間。

操作使用界面

可測(cè)量多達(dá)6層的多層漆料、塑料和其他材料

多層測(cè)量軟件提供多達(dá)6層的多層厚度測(cè)量功能。每層的測(cè)量設(shè)置，包括材料、聲速、目標(biāo)厚度范圍和報(bào)警閾值，都可以通過配置工作流程和觸摸屏控制輕松訪問。

簡(jiǎn)化的數(shù)據(jù)收集和處理，

輕松完成分析工作

所有型號(hào)的72DL PLUS測(cè)厚儀都提供內(nèi)置的數(shù)據(jù)記錄功能，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)量高達(dá)2 GB，同時(shí)還提供方便的機(jī)載文件管理功能。為了增加靈活性，PC機(jī)接口應(yīng)用程序也可用于創(chuàng)建應(yīng)用，并將文件發(fā)送到生產(chǎn)車間或不同工廠中的不同測(cè)厚儀中。

PC機(jī)接口應(yīng)用程序提供了現(xiàn)代化數(shù)據(jù)創(chuàng)建、管理、共享和分析工具。并可通過無線局域網(wǎng)和USB連通性能，72DL PLUS測(cè)厚儀可被集成到奧林巴斯科學(xué)云（OSC）中。連接到奧林巴斯科學(xué)云（OSC）后，所有型號(hào)的72DL PLUS測(cè)厚儀都包括5種測(cè)量布局，因此可以準(zhǔn)確地跟蹤和顯示被測(cè)材料的厚度變化。