目錄:上海儀電物理光學(xué)儀器有限公司>>粒度儀系列>> WKL-702顆粒圖像分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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產(chǎn)品特點 ????將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、準(zhǔn)確和測量范圍寬等特點。 1、圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。 2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。 3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖。 技術(shù)參數(shù)
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