狠狠色丁香久久综合婷婷亚洲成人福利在线-欧美日韩在线观看免费-国产99久久久久久免费看-国产欧美在线一区二区三区-欧美精品一区二区三区免费观看-国内精品99亚洲免费高清

            上海怡賽科學(xué)儀器有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第8年

            18521090096

            當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> Nanotest TIFAS IR熱成像法失效分析儀

            Nanotest TIFAS IR熱成像法失效分析儀
            • Nanotest  TIFAS IR熱成像法失效分析儀

            貨物所在地:上海上海市

            地: 德國(guó)

            更新時(shí)間:2025-02-20 08:41:46

            瀏覽次數(shù):57

            在線詢價(jià)收藏商機(jī)

            ( 聯(lián)系我們,請(qǐng)說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!)

            IdealChrom液相色譜儀
            便攜式細(xì)胞計(jì)數(shù)儀/光譜儀
            總抗氧化能力/氧化應(yīng)激
            液相色譜儀
            磁力攪拌器
            全自動(dòng)旋光儀
            原子吸收光度計(jì)
            紅外光譜儀
            紫外分光光度計(jì)
            英國(guó)PMAC動(dòng)態(tài)阻垢劑測(cè)試儀 PMAC Dynamic Scale Loop
            氣相色譜儀
            搖床、混勻器、攪拌器
            厭氧工作站
            浮游菌采樣儀
            溶出度儀
            冰點(diǎn)滲透壓儀/VPO
            細(xì)胞生物反應(yīng)器/發(fā)酵罐
            真空烘箱/干燥箱/烘箱
            恒溫恒濕箱
            蒸發(fā)光散射檢測(cè)器
            離心機(jī)
            革蘭氏染色儀
            菌落成像分析系統(tǒng)
            均質(zhì)器
            進(jìn)樣閥
            液體移動(dòng)產(chǎn)品
            PCR基因擴(kuò)增儀
            加熱板
            混勻儀
            全自動(dòng)玻璃器皿清洗機(jī)
            細(xì)胞密度計(jì)
            清洗機(jī)
            移液器
            生物試劑耗材
            水浴/恒溫循環(huán)器
            防爆冰箱
            熱學(xué)分析儀器
            反應(yīng)釜
            實(shí)驗(yàn)室凍干機(jī)
            Nanotest是柏林熱管理材料表征和電子器件可靠性分析聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室的一員,該實(shí)驗(yàn)室與開姆尼茨工業(yè)大學(xué)、勃蘭登堡工業(yè)大學(xué)和弗勞恩霍夫協(xié)會(huì)電子納米系統(tǒng)研究所齊名,聚焦于熱管理材料表征和電子器件可靠性分析領(lǐng)域,是歐洲相關(guān)領(lǐng)域主要的儀器供應(yīng)商之一。
            Nanotest TIFAS IR熱成像法失效分析儀

            Nanotest  TIFAS IR熱成像法失效分析儀

            638125017769707838569.jpg

                當(dāng)熱量從器件發(fā)熱點(diǎn)(源)向環(huán)境中傳遞過程中,偶爾會(huì)遇到一些熱的阻礙物,通常這些熱阻礙物會(huì)非常嚴(yán)重的影響器件的可靠性。通過直接觀察熱的產(chǎn)生和其傳遞的路徑是發(fā)現(xiàn)這些缺陷癥狀的有效方法。

                   TIFAS IR是一個(gè)高度集成的桌面型紅外熱成像法失效分析儀,可應(yīng)用于幾乎所有材料的失效分析。通過觀察電子器件、系統(tǒng)、復(fù)合物、多層聚合物或燒結(jié)零配件的全波段光譜來判斷其綜合結(jié)構(gòu),如雜質(zhì)、缺陷以及形貌等。


            技術(shù)參數(shù):

            測(cè)試時(shí)間:1-10 s

            IR相機(jī)像素:382*288px (可提供更寬范圍)

            觀測(cè)區(qū)域:95 mm x 123 mm(可提供更寬范圍)



            會(huì)員登錄

            ×

            請(qǐng)輸入賬號(hào)

            請(qǐng)輸入密碼

            =

            請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

            收藏該商鋪

            X
            該信息已收藏!
            標(biāo)簽:
            保存成功

            (空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

            常用:

            提示

            X
            您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
            撥打電話
            在線留言