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優(yōu)惠供應(yīng)特測 TESEO NSG 3060 脈沖群發(fā)生器，模塊化，可擴(kuò)展系統(tǒng)
浪涌電壓高達(dá)6.6 kV
7"彩色觸摸屏，便于操作
IEC 和ANSI 兩種耦合方式
DTA （直接測試程序調(diào)用） 可快速提供標(biāo)準(zhǔn)化測試設(shè)置
測試過程中也可以更改測試參數(shù)
大量可選測試附件
高精度開關(guān)切換技術(shù)，滿足ANSI 耦合方式的要求
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
脈沖群發(fā)生器 NSG 3060 - 模塊化6kV測試解決方案
優(yōu)惠供應(yīng)特測 TESEO NSG 3060 脈沖群發(fā)生器
- 模塊化，可擴(kuò)展系統(tǒng)
- 浪涌電壓高達(dá)6.6 kV
- 7”彩色觸摸屏，便于操作
- IEC 和ANSI 兩種耦合方式
- DTA (直接測試程序調(diào)用) 可快速提供標(biāo)準(zhǔn)化測試設(shè)置
- 測試過程中也可以更改測試參數(shù)
- 大量可選測試附件
- 高精度開關(guān)切換技術(shù)，滿足ANSI 耦合方式的要求
| NSG 3060 e.(882.92 KB) |
| NSG 3060-CN Dec2010 (780.89 KB) |
特測 TESEO NSG 3060 脈沖群發(fā)生器規(guī)格參數(shù)：
1.2/50 - 8/20 us綜合波脈沖(混合浪涌脈沖) — CWM 3450符合IEC/EN 61000-4-5, GB/T17626.5和ANSI (IEEE) C62.41的脈沖模塊；
0.5 us/100 kHz振鈴波 — RWM 3652符合IEC/EN 61000-4-12, GB/T17626.5和ANSI (IEEE) C62.41的脈沖模塊；
5/50 ns 脈沖群 (EFT) — FTM 3425符合IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4標(biāo)準(zhǔn)；
電壓跌落和變化 — PQM 3403 符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11標(biāo)準(zhǔn)；
電壓變化測試 — VAR 系列調(diào)壓器 符合IEC/EN 61000-4-11，GB/T 17626.11標(biāo)準(zhǔn)；
脈沖磁場測試 — INA753和磁場測試線圈INA701/INA 702 符合IEC/EN 61000-4-9, GB/T 17626.9；
工頻磁場測試 — MFO 6501 / MFO 6502和INA 702產(chǎn)生的工頻磁場
符合IEC/EN61000-4-8，GB/T，17626.8；
特測 TESEO NSG 3060 脈沖群發(fā)生器滿足眾多的國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)：
IEC/EN 61000-4-5,
GB/T17626.5,
ANSI (IEEE) C62.41,
IEC/EN 61000-4-12,
IEC/EN 61000-4-4,
GB/T 17626.4,
IEC/EN 61000-4-11,
GB/T 17626.11,
IEC/EN 61000-4-9,
GB/T 17626.9,
IEC/EN61000-4-8,
GB/T 17626.8
特測 TESEO NSG 3060 脈沖群發(fā)生器特點及應(yīng)用：
*CE標(biāo)識和ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)測試要求而設(shè)計, *CE標(biāo)識和ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)測試要求而設(shè)計，良好技術(shù)的組件，超高對比度的7”彩色觸摸屏，友好的圖形顯示界面，專家模式，TA(測試程序)功能，SD記憶卡讀卡器。