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FischerX射線金屬材料分析儀X-RAY XAN® 250/252、XDL®、XDV®-SDD
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250/252
高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x，配有的硅漂移探測(cè)器（SDD），可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測(cè)、材料分析和鍍層厚度測(cè)量。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
FischerX射線金屬材料分析儀X-RAY XAN? 250/252、XDL?、XDV?-SDD
FISCHERSCOPE? X-RAY XAN? 250/252
高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x，配有的硅漂移探測(cè)器(SDD)，可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測(cè)、材料分析和鍍層厚度測(cè)量。
特點(diǎn)
高性能機(jī)型，具有強(qiáng)大的綜合測(cè)量能力
配有4 個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析
由下至上的測(cè)量方向，可以非常簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位
典型應(yīng)用領(lǐng)域
對(duì)電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能性鍍層進(jìn)行測(cè)量
對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對(duì)合金進(jìn)行高精度的分析
用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域
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FISCHERSCOPE? XDL?
X射線熒光測(cè)試儀，可手動(dòng)或全自動(dòng)測(cè)量功能性鍍層(包括鉻層測(cè)厚、銅厚測(cè)量)、防腐蝕鍍層和大規(guī)模生產(chǎn)零部件
XDL鍍層厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)
堅(jiān)固耐用的鍍層厚度測(cè)量設(shè)備，甚至可在較大的距離測(cè)量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作
固定光圈和固定濾光鏡
用于1mm起大小的測(cè)量點(diǎn)
底部C型開槽的大容量測(cè)量艙
可編程的臺(tái)式設(shè)備，用于自動(dòng)測(cè)量
標(biāo)準(zhǔn)X射線管，比例計(jì)數(shù)器
XDL鍍層厚度測(cè)量?jī)x典型應(yīng)用領(lǐng)域
測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件
防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻。鉻層測(cè)厚、銅厚測(cè)量
電鍍工業(yè)中電鍍液的分析
黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
FISCHERSCOPE? XDV?-SDD
高性能X射線熒光測(cè)試儀，配有可編程XY平臺(tái)和Z軸，可自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層和分析痕量元素
儀器特點(diǎn)
高級(jí)型號(hào)儀器，具有常見的所有功能
射線激發(fā)量的靈活性zui大，激發(fā)量可根據(jù)測(cè)量面積大小和光譜組成而改變
通過硅漂移探測(cè)器，在 > 10萬cps（每秒計(jì)數(shù)率） 的超高信號(hào)量下也可以正常工作，而不會(huì)出現(xiàn)能量分辨率的降低
極低的檢測(cè)下限和出色的測(cè)量重復(fù)度
帶有快速、可編程 XY 工作臺(tái)的自動(dòng)測(cè)量?jī)x器
大容量便于操作的測(cè)量艙
典型應(yīng)用領(lǐng)域
測(cè)量極薄的鍍層，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
痕量分析，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)
進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
光伏產(chǎn)業(yè)
測(cè)量 NiP 鍍層的厚度和成分