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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
MAGNA新一代超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
TESCAN MAGNA是一款功能極其強(qiáng)大的分析儀器，適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。MAGNA配置 Triglav™ 型 SEM 鏡筒，具有超高的分辨率，在低電壓下尤為明顯；鏡筒內(nèi)探測(cè)器系統(tǒng)具有電子信號(hào)過(guò)濾能力，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度，非常適用于不導(dǎo)電樣品的成像，如陶瓷、無(wú)涂層生物樣品，以及在半導(dǎo)體光敏樣品等。
產(chǎn)品特點(diǎn)
- *的實(shí)時(shí)電子束追蹤技術(shù)(In-flight Beam Tracing™)功能，可設(shè)置優(yōu)化束斑尺寸和束流強(qiáng)度。
- *的TriBETM和TriSETM In-Beam探測(cè)器系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)更*進(jìn)的納米尺度表征。
- TESCAN Essence™便利的電鏡操作軟件。
- 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，如EDS、EBSD、CL、Raman聯(lián)用。