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            島津企業(yè)管理(中國)有限公司

            基于高性能紅外顯微鏡AIM-9000的電子產(chǎn)品異物分析

            時間:2016-11-3 閱讀:1425
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             紅外顯微鏡是將紅外光路引入到顯微鏡中,光學顯微鏡觀察微小樣品,調(diào)節(jié)可變光闌的大小,選擇測試樣品中的某一微區(qū),紅外光聚焦后,進行紅外分析。顯微紅外法在微量樣品的紅外光譜測試中發(fā)揮著越來越大的作用。異物分析技術通常應用于生產(chǎn)出來的產(chǎn)品有一些斑點狀附著物、油狀物、粉狀物等異常缺陷或表面污染,此時需要分析異物屬性,進而尋找污染源或環(huán)節(jié),進行排查,以改善配方體系,提高產(chǎn)品質(zhì)量。在電子電氣行業(yè),生產(chǎn)工藝流程復雜,過程中使用的物料眾多,操作流水線上的稍微疏漏,都會導致產(chǎn)品中出現(xiàn)不明異物。這不僅影響產(chǎn)品外觀,影響產(chǎn)品質(zhì)量,甚至會導致生產(chǎn)停滯,給企業(yè)帶來不可估量的經(jīng)濟損失。由于異物樣品較小,顯紅外微法在微小異物分析中的顯著優(yōu)勢得以體現(xiàn)。

             

            島津紅外顯微鏡 AIM-9000,可視圖像 330 倍放大,可以實現(xiàn)zui小視野 30*40 μm 的觀測范圍,大范圍廣角相機快速尋找異物點,自動對焦,定位待測點,測量的同時觀測測量位置,確保異物點測量位置零偏移。本文使用 AIM-9000 分析了手機鏡頭組件中的異物。

             

            島津公司新發(fā)布紅外顯微鏡 AIM-9000

             

            了解詳情,敬請點擊《紅外顯微鏡法在電子產(chǎn)品異物分析中的應用》

             

             

             

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