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            島津企業(yè)管理(中國)有限公司

            匯集分析方案,聚焦材料科學(xué):(二)材料表面分析

            時間:2021-2-22 閱讀:435
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            材料是人類賴以生存和發(fā)展的物質(zhì)基礎(chǔ),各種材料的運(yùn)用很大程度上反映了人類社會的發(fā)展水平,而材料科學(xué)也日益成為人類現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)體系的重要支柱之一。

             

            材料表面分析是對固體表面或界面上只有幾個原子層厚的薄層進(jìn)行組分、結(jié)構(gòu)和能態(tài)等分析的材料物理試驗。也是一種利用分析手段,揭示材料及其制品的表面形貌、成分、結(jié)構(gòu)或狀態(tài)的技術(shù)。為此,島津針對性地提供了全面的表征解決方案,助力材料科學(xué)研究。

             

            材料表面分析

            掃描探針顯微鏡SPM / X射線光電子能譜儀 / 電子探針顯微分析儀EPMA

             

            原子力顯微鏡 SPM-9700HT

             

            SPM-9700HT在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強(qiáng)的測量功能,具備信號處理能力,可得到更高分辨率、更高質(zhì)量的觀察圖像。

             

            SPM-9700HT

             

            應(yīng)用:金屬蒸鍍膜的表面粗糙度分析

            1 Hz和5 Hz的掃描速度對金屬蒸鍍膜的表面形貌進(jìn)行觀察,畫質(zhì)及表面粗糙度的分析結(jié)果相同。

             

             

            應(yīng)用:光柵溝槽形狀檢測

            1Hz和5Hz的掃描速度對光柵的表面形貌進(jìn)行觀察,經(jīng)過斷面形狀分析,溝槽形狀檢測結(jié)果均相同。

             

             

            可控環(huán)境艙原子力顯微鏡 WET-SPM

             

            WET-SPM為原子力顯微鏡實驗提供各種環(huán)境,如真空、各種氣體(氮、氧等)、可控濕度、溫度、超高溫,超低溫、氣體吹掃等。實現(xiàn)了原位掃描,可追蹤在溫度、濕度、壓力、光照、氣氛濃度等發(fā)生變化時的樣品變化。

             

             

            WET-SPM

             

            應(yīng)用:樹脂冷卻觀察

            室溫下樹脂的粘彈性圖像中,可以觀察到兩相分離。冷卻至-30℃,粘彈性的差異基本消失。

             

             

             

            應(yīng)用:聚合物膜的加熱觀察

            聚合物膜在不同加熱溫度下的形貌變化,在相位圖上可清晰觀察到樣品表面因加熱而產(chǎn)生的物理特性變化。

             

             

            調(diào)頻型高分辨原子力顯微鏡 SPM-8100FM

             

            島津高分辨率原子力顯微鏡SPM-8100FM使用調(diào)頻模式,提高了信號的靈敏度,即使在大氣環(huán)境甚至液體環(huán)境中也能獲得與真空環(huán)境中同樣超高分辨率表面觀察圖像。無論是表面光潔的晶體樣品還是柔軟的生物樣品,都實現(xiàn)了分子/原子級的表征。SPM-8100FM*觀察到固體和液體臨界面(固液界面)的水化、溶劑化現(xiàn)象的圖像,因此實現(xiàn)了對固液界面結(jié)構(gòu)的測量分析。

             

             

            SPM-8100FM

             

             

             

             

            應(yīng)用:液體中原子級分辨率觀察

             

            圖為在飽和溶液中觀察NaCl表面的原子排列。以往的AFM(調(diào)幅模式)圖像湮沒在噪聲中。通過調(diào)頻模式則可以清晰地觀察到原子的排列,實現(xiàn)真正的原子級分辨率。

             

            應(yīng)用:大氣中Pt催化粒子的KPFM觀察

             

            通過KPFM進(jìn)行表面電勢的測定,TiO2基板上的Pt催化粒子可被清晰識別。同時可以觀察到數(shù)納米大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。

            右圖中,紅圈區(qū)域是正電勢,藍(lán)框區(qū)域是負(fù)電勢。

            對于KPFM觀察,調(diào)頻模式也大幅提高了分辨率。

             

            X射線光電子能譜儀AXIS SUPRA+

             

            X射線光電子能譜儀(XPS)是一種被廣泛使用的表面分析技術(shù),主要用于樣品的組成和化學(xué)狀態(tài)分析,可以準(zhǔn)確地確定元素的化學(xué)狀態(tài),應(yīng)用于各種低維新材料、納米材料和表面科學(xué)的研究中。AXIS SUPRA+是島津/Kratos新研發(fā)出的一款X射線光電子能譜儀,具備高能量分辨、高靈敏度、高空間分辨的特點。

             

             

            AXIS SUPRA+

             

            化學(xué)狀態(tài)和含量分析

             

             

            深度剖析

             

             

            化學(xué)狀態(tài)成像分析

             

             

            電子探針顯微分析儀 EPMA

             

            電子探針顯微分析儀(Electron Probe Micro-Analyzer,EPMA)使用單一能量的高能電子束照射固體材料,入射電子與材料中的原子發(fā)生碰撞,將內(nèi)殼層的電子激發(fā)脫離原子,在相應(yīng)的殼層上留下空穴,在外殼層電子向內(nèi)殼層空穴躍遷的過程中,發(fā)出具有特征波長的X射線。EPMA使用由分光晶體和檢測器組成的波譜儀檢測這些特征X射線,用于材料成分的定性、定量分析。

             

            EPMA的波譜儀的檢測極限一般為0.005%左右,檢測深度為微米量級,其成分像的二維空間分辨亦為微米量級,定量分析的精度可以達(dá)到傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法水平。

             

            配備了多道波譜儀的EPMA是材料學(xué)研究中微區(qū)元素定性、定量分析的*,屬于科研工作*的分析儀器。

             

             

            EPMA-1720

             

             

            EPMA-8050G

             

            應(yīng)用:超輕元素EPMA分析-滲碳均勻性的圖象分析

             

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