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產(chǎn)地類別	進口	價格區(qū)間	面議
儀器種類	其它	應用領域	食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工

SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡

HR-SPM
觀察生動的納米世界

HR-SPM是采用頻率檢測方式（Frequency Modulation）的新一代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣·液體環(huán)境中實現(xiàn)超高分辨率的觀察，還實現(xiàn)了固液界面的水化作用層（hydration）·溶劑化作用層（solvation）的觀察。
HR-SPM：High Resolution Scanning Probe Microscope

SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡HR-SPM的特點

●采用FM(頻率調(diào)制)方式
●大氣·液體環(huán)境中的噪聲減少到以往的1/20
●在大氣·液體環(huán)境中實現(xiàn)真空型SPM的性能水平！

以往的SPM（掃描型探針顯微鏡）/AFM（原子力顯微鏡）是AM（振幅調(diào)制）方式，而FM（頻率調(diào)制）方式從原理上就因為高靈敏度檢測從而可實現(xiàn)更高的分辨率。

SPM：Scanning Probe Microseope
AFM：Atomic Force Microscope
AM：Amplitude Modulation
FM：Frequency Modulation

和以往SPM/AFM相比的不同

液體中原子分辨率觀察

圖為在飽和溶液中觀察NaCl表面的原子排列。以往AFM（AM方式：左）湮沒在噪聲中的原子通過FM方式（右）則可以清晰地觀察到。
FM方式可以得到真正的原子分辨率（True Atomic Resolution）。

大氣中Pt催化粒子的KPFM觀察

TiO2基板上的Pt催化粒子被識別了出來，并通過KPFM進行表面電勢的測定?？梢杂^察到數(shù)nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色○區(qū)域是正電勢，藍色□區(qū)域是負電勢?？梢妼τ贙PFM觀察，分辨率也得到了大幅的提高。

＊KPFM（Keivin Probe Force Microscope）功能為特殊定制。

<引用文獻>

1)	Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).