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            島津企業(yè)管理(中國)有限公司

            BUSINESS

            當前位置:> 供求商機> OLS4100 3D測量激光顯微鏡

            [供應]OLS4100 3D測量激光顯微鏡

            貨物所在地:北京北京市

            更新時間:2024-09-09 21:00:07

            有效期:2024年9月9日 -- 2025年3月9日

            已獲點擊:292

            聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)

            OLS4100 3D測量激光顯微鏡島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環(huán)境、食品、化工、制藥、半導體、陶瓷及高分子等眾多領域客戶,多種樣品分析所需要的種類繁多的分析儀器。電子探針(EPMA)分析對象從幾厘米到幾微米;X射線光電子能譜儀(XPS)分析對象從幾毫米到幾微米;掃描探針顯微鏡(SPM)觀察范圍從100微米到幾納米。

            開拓了激光顯微鏡的界限。
            -總是值得信賴的影像和測量-

            OLS4100 3D測量激光顯微鏡的優(yōu)勢

            非接觸式、無損、快速成像和測量

            ○ 非接觸式、無損測量

            激光掃描顯微鏡(LSM)采用低功率激光,不接觸樣品。因此,不像基于探針系統(tǒng)的接觸式表面粗糙度測量儀那樣存在損壞樣品的風險。


            ○ 無需前期準備即可成像

            掃描電子顯微鏡(SEM)在觀察之前需要進行前期的樣品準備,如真空脫水和/或切片處理,使之適合樣品室。而LSM則無需前期的樣品準備即可對樣品進行測量。而且,將樣品放置在載物臺上之后,即可直接開始成像。


             的XY測量

            ○ 在XY平面精確測量亞微米級的距離

            干涉儀是基于普通白光的光學顯微鏡,它的平面分辨率不高。而LSM通過采用更大數(shù)值孔徑的物鏡和更小波長的光波,極大地提高了平面分辨率。并且通過高精度的激光控制技術,獲得更為精確的樣品表面形貌。根據(jù)拍攝到的圖像,LSM可以進行非常精確的XY平面亞微米測量。LEXT OLS4100達到了0.12μm的平面分辨率。

            的Z軸測量

            ○ 在Z方向上精確測量亞微米級的高度
             

            SEM可以拍攝到超高分辨率的影像,但是無法得到高度信息。LSM采用短波長半導體激光和*的雙共焦光學系統(tǒng),會刪除未聚焦區(qū)域的信號,只將聚焦范圍內(nèi)的反射光檢測為同一高度。同時結合高精度的光柵讀取能力,可以生成高畫質(zhì)的影像,實現(xiàn)精確的3D測量。LEXT OLS4100達到了10nm的高度分辨率。


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