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            島津企業(yè)管理(中國)有限公司

            BUSINESS

            當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> SPM-8000FM 高分辨率掃描型探針顯微鏡

            [供應(yīng)]SPM-8000FM 高分辨率掃描型探針顯微鏡

            貨物所在地:北京北京市

            更新時(shí)間:2025-03-20 21:00:08

            有效期:2025年3月20日 -- 2025年9月20日

            已獲點(diǎn)擊:329

            聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)

            SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環(huán)境、食品、化工、制藥、半導(dǎo)體、陶瓷及高分子等眾多領(lǐng)域客戶,多種樣品分析所需要的種類繁多的分析儀器。電子探針(EPMA)分析對(duì)象從幾厘米到幾微米;X射線光電子能譜儀(XPS)分析對(duì)象從幾毫米到幾微米;掃描探針顯微鏡(SPM)觀察范圍從100微米到幾納米。

            SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡

            HR-SPM
            觀察生動(dòng)的納米世界

            HR-SPM是采用頻率檢測(cè)方式(Frequency Modulation)的新一代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣·液體環(huán)境中實(shí)現(xiàn)超高分辨率的觀察,還*實(shí)現(xiàn)了固液界面的水化作用層(hydration)·溶劑化作用層(solvation)的觀察。
            HR-SPM:High Resolution Scanning Probe Microscope

            SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡HR-SPM的特點(diǎn)

            采用FM(頻率調(diào)制)方式
            大氣·液體環(huán)境中的噪聲減少到以往的1/20
            在大氣·液體環(huán)境中實(shí)現(xiàn)真空型SPM的性能水平!

            以往的SPM(掃描型探針顯微鏡)/AFM(原子力顯微鏡)是AM(振幅調(diào)制)方式,而FM(頻率調(diào)制)方式從原理上就因?yàn)楦哽`敏度檢測(cè)從而可實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。

            SPM:Scanning Probe Microseope
            AFM:Atomic Force Microscope
            AM:Amplitude Modulation
            FM:Frequency Modulation

            和以往SPM/AFM相比的不同

            液體中原子分辨率觀察

            圖為在飽和溶液中觀察NaCl表面的原子排列。以往AFM(AM方式:左)湮沒在噪聲中的原子通過FM方式(右)則可以清晰地觀察到。
            FM方式可以得到真正的原子分辨率(True Atomic Resolution)。

            大氣中Pt催化粒子的KPFM觀察

            TiO2基板上的Pt催化粒子被識(shí)別了出來,并通過KPFM進(jìn)行表面電勢(shì)的測(cè)定??梢杂^察到數(shù)nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中,紅色區(qū)域是正電勢(shì),藍(lán)色區(qū)域是負(fù)電勢(shì)??梢妼?duì)于KPFM觀察,分辨率也得到了大幅的提高。

            *KPFM(Keivin Probe Force Microscope)功能為特殊定制。

            <引用文獻(xiàn)>

            1)Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).


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