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            北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司

            主營(yíng)產(chǎn)品: 搖擺式脫色搖床,實(shí)驗(yàn)室電子分析天平,一體涂層測(cè)厚儀

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            行業(yè)專用儀器儀表

            物理學(xué)儀器

            放射類/磁力儀器

            水質(zhì)檢測(cè)儀

            水位計(jì)/液位計(jì)/物位計(jì)

            氣象儀器

            食品安全系列

            工程地質(zhì)勘探儀器

            色譜儀

            壓力傳感器/壓力儀表、力學(xué)測(cè)試

            測(cè)距儀/測(cè)速儀

            礦用設(shè)備

            實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備、化行業(yè)工設(shè)備

            無損檢測(cè)儀器/測(cè)厚儀系列

            測(cè)溫儀、溫度計(jì)系列

            硬度計(jì)系列

            流量計(jì)/流速儀

            光學(xué)儀器

            氣體檢測(cè)儀系列

            電力設(shè)備

            環(huán)境檢測(cè)設(shè)備

            公司信息

            聯(lián)人:
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            北京市昌平區(qū)小辛莊工業(yè)園108號(hào)
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            www.bjky168.com
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            http://apwanrong.com/st311070/
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            [供應(yīng)]SN/LT-2-單晶少子壽命測(cè)試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測(cè)定儀
            SN/LT-2-單晶少子壽命測(cè)試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測(cè)定儀
            貨物所在地:
            北京北京市
            更新時(shí)間:
            2025-03-23 21:00:07
            有效期:
            2025年3月23日--2025年9月23日
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            【簡(jiǎn)單介紹】單晶少子壽命測(cè)試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測(cè)定儀
            LT-2型單晶少子壽命測(cè)試儀是參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,是半導(dǎo)體的常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測(cè)量包括集成電路級(jí)硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測(cè)量等。
            【詳細(xì)說明】

            單晶少子壽命測(cè)試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測(cè)定儀

            型號(hào):SN/LT-2

            LT-2型單晶少子壽命測(cè)試儀是參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,是半導(dǎo)體的常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測(cè)量包括集成電路級(jí)硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測(cè)量等。
             
               本儀器根據(jù)通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計(jì),由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺(tái)共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)量數(shù)據(jù)可靠。
            技 術(shù) 指 標(biāo)
             
             測(cè)試單晶電阻率范圍 >2Ω.cm
             可測(cè)單晶少子壽命范圍 5μS~7000μS
             配備光源類型 波長(zhǎng):1.09μm;余輝<1 μS;
             閃光頻率為:20~30次/秒;
             閃光頻率為:20~30次/秒;
             高頻振蕩源 用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz
             前置放大器 放大倍數(shù)約25,頻寬2 Hz-1 MHz
             儀器測(cè)量重復(fù)誤差 <±20%
             測(cè)量方式 采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式
             儀器消耗功率 <25W
             儀器工作條件 溫度: 10-35℃、 濕度 < 80%、使用電源:AC 220V,50Hz
             可測(cè)單晶尺寸 斷面豎測(cè):φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;
             縱向臥測(cè):φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
             配用示波器 頻寬0—20MHz;
             電壓靈敏:10mV/cm;


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