薄膜測(cè)厚儀，顧名思義為用于塑料薄膜材料的厚度檢測(cè)的專業(yè)測(cè)量儀器。其名稱為“薄膜測(cè)厚儀"，行業(yè)中又被稱為薄膜厚度測(cè)量儀、薄膜厚度儀、薄膜厚度測(cè)試儀等等。一般來說，儀器能夠測(cè)量的材料包括：塑料薄膜、薄片、塑料片材、鋁箔、銅箔、電池隔膜、紙張、紙板等材料的厚度。
從薄膜厚度測(cè)量方式不同的角度來劃分，薄膜測(cè)厚儀可分為接觸式和非接觸式兩種，即測(cè)量薄膜厚度時(shí)儀器是否接觸到測(cè)試樣品本身。
薄膜測(cè)厚儀
恒品始創(chuàng)于2012年，是一家專業(yè)從事軟包裝檢測(cè)儀器的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的技術(shù)型企業(yè)，為全球數(shù)萬家客戶提供專業(yè)全面的產(chǎn)品品質(zhì)控制解決方案！公司自主研發(fā)生產(chǎn)的“薄膜測(cè)厚儀"，是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量。該儀器嚴(yán)格按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造，采用機(jī)械接觸式測(cè)試原理，非常適合薄膜材料進(jìn)行厚度的高精度測(cè)量，是企業(yè)進(jìn)行產(chǎn)品厚度技術(shù)指標(biāo)質(zhì)量控制需要儀器。
薄膜測(cè)厚儀是在恒品不斷的創(chuàng)新研發(fā)和技術(shù)積累中推陳出新的一款新型測(cè)厚儀，使用超高精度的位移傳感器、科學(xué)的結(jié)構(gòu)布局及專業(yè)的控制技術(shù)，實(shí)現(xiàn)*測(cè)試穩(wěn)定性、重復(fù)性及精度?？蛇x配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。儀器的測(cè)試原理為：將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上，與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。
薄膜測(cè)厚儀的執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中國《藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范》（GMP）對(duì)軟件的有關(guān)要求（可選配置）
應(yīng)用材料：
基礎(chǔ)應(yīng)用：
薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測(cè)定
紙——各種紙張、紙板、復(fù)合紙板等的厚度測(cè)定
擴(kuò)展應(yīng)用：
金屬片、硅片——硅片、箔片、各種金屬片等的厚度測(cè)定
瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測(cè)定
紡織材料——各類紡織材料如編織織物、針織物、涂層織物等的厚度測(cè)定
非織造布——各類非織造布如尿不濕、衛(wèi)生巾、醫(yī)用口罩等的厚度測(cè)定
其它材料——固體電絕緣材料、膠黏帶、土工合成材料、橡膠等的厚度測(cè)定