MC-2000A高精度涂層測(cè)厚儀關(guān)于測(cè)試工件的要求：

1.本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

2.  試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上zui小曲率要求半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm

其他：

探頭在使用是主要保持垂直測(cè)量，這樣得出的示值才會(huì)穩(wěn)定，其他類(lèi)型測(cè)厚儀亦如此。   

 注意：由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。（此參考說(shuō)明書(shū)上檢測(cè)方法）  

MC-2000A高精度涂層測(cè)厚儀MC-2000A涂層測(cè)厚儀工作原理

MC-2000A型涂鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。

輕松讀取

可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)， 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)。

二、MC-2000A涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能

1、測(cè)量范圍：　　0～1200um

2、測(cè)量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式：    4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

   (1).測(cè)量：   　  單探頭全量程測(cè)厚

   (2).存儲(chǔ)、刪除：

   (3).統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值

   (4).校準(zhǔn)： 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)

   (5).電量： 具有欠壓顯示功能

   (6).蜂鳴提示：操作過(guò)程中有蜂鳴提示

   (7).打?。?/span> 可打印測(cè)量值，選配微型打印機(jī)

   (8).關(guān)機(jī)： 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法

6、電源：    　　　  兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：      　　　zui大功耗100mw

8、外形盡寸：    　51mm*126mm*27mm

9、重量：　　　　　 160g（含電池）

10、使用環(huán)境溫度：　0℃～+40℃  相對(duì)濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度：     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑：   7mm

13、zui小曲率半徑：     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：       右上角顯示＂＂

*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。

三、MC-2000A型涂層測(cè)厚儀配置單

 MC-2000A說(shuō)明書(shū)下載

    1、MC-2000A型涂鍍層測(cè)厚儀              一臺(tái)

    2、七號(hào)電池              　            二節(jié)

    3、探頭                                一支

    4、標(biāo)準(zhǔn)樣片       　　　　　　         一盒     

    5、小鋁箱                              一個(gè)

    6、說(shuō)明書(shū)、合格證                      一套

 選配件：                                                              

    1、打印機(jī)及通訊打印連線                 1套 

    2、微機(jī)通訊軟件                         1盤(pán)

1. 內(nèi)防腐探頭

關(guān)于基體的要求：

1.基體必須為磁性金屬，如鋼板、鎳、鐵等都是含磁金屬。

2.基體金屬的厚度： 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響?？齐娡繉訙y(cè)厚儀的臨界厚度值：工件鐵基厚度大于1mm時(shí)，其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)中，工件涂鍍層厚度的測(cè)量受以下兩個(gè)因素的影響非常大：
1、受溫度的影響，同一工件在不同溫度下測(cè)量往往會(huì)有很大的誤差。
2、由于電子元器件本身的因素，儀器一般會(huì)產(chǎn)生一定的電漂，這對(duì)測(cè)量厚度的影響有時(shí)候也是巨大的。
鑒于以上這個(gè)兩個(gè)難題，科電公司技術(shù)部集中全力終于成功研制成-——鎖相環(huán)技術(shù),一舉攻克以上兩大難題。