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布魯克Bruker原子力顯微鏡ARM/表面形貌/粗糙度/電學(xué)/磁學(xué)性能測(cè)量系統(tǒng)
Bruker公司的AFM具有多項(xiàng)技術(shù)，以其的性能廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域
Dimension Edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些創(chuàng)新技術(shù)，達(dá)到了同類產(chǎn)品的zui高水平，為納米尺度的科學(xué)研究提供了高效率、高性價(jià)比的強(qiáng)大工具。
應(yīng)用：
應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測(cè)量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤存儲(chǔ)，薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測(cè)等各類科研和生產(chǎn)工作。
原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來(lái)分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。
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