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            北京亞科晨旭科技有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第7年

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            BRUKER ContourGT-ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡
            • BRUKER ContourGT-ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡

            貨物所在地:北京北京市

            地: 歐洲

            更新時(shí)間:2025-03-15 21:00:07

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            ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡是表面輪廓儀功能和價(jià)值的標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)具有各種2D / 3D測(cè)量,高分辨率成像和用戶友好的界面,該系統(tǒng)以緊湊的封裝和緊湊的占地面積提供了*的計(jì)量功能。

            ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡(三維光學(xué)輪廓儀)

            在一臺(tái)臺(tái)式儀器中結(jié)合了出色的分析性能,便利性和價(jià)格可承受性

             

            ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡是表面輪廓儀功能和價(jià)值的標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)具有各種2D / 3D測(cè)量,高分辨率成像和用戶友好的界面,該系統(tǒng)以緊湊的封裝和緊湊的占地面積提供了*的計(jì)量功能。

             

            ContourGT-K是滿足基本計(jì)量和成像需求的實(shí)驗(yàn)室的理想測(cè)量系統(tǒng)。

             

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            ContourGT K工具圖片v2

            輪廓GT-K

            質(zhì)量與可靠性

             

            ContourGT-K是非接觸表面表征和成像領(lǐng)域超過(guò)三十年專有光學(xué)創(chuàng)新和地位的結(jié)晶。 ContourGT系列基于Wyko®技術(shù)構(gòu)建,具有強(qiáng)大的算法和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),使布魯克成為可靠測(cè)量的。發(fā)貨前,每個(gè)單元都經(jīng)過(guò)我們美國(guó)工廠的嚴(yán)格認(rèn)證。除其他規(guī)格外,還對(duì)它們進(jìn)行了測(cè)試,使其均方根(RMS)重現(xiàn)性<0.03nm或更高,步長(zhǎng)1 sigma重現(xiàn)性<0.1%。

             

            ContourGT K USB插入2

            ContourGT K分析齒輪齒

            靈活的登臺(tái)和固定,以適合您的應(yīng)用

             

            ContourGT-K設(shè)計(jì)為您提供了可根據(jù)需要靈活配置顯微鏡的靈活性。無(wú)論是配置為基本配置(手動(dòng)平臺(tái)和單個(gè)物鏡)還是更自動(dòng)化的設(shè)置(機(jī)動(dòng)平臺(tái)和5位機(jī)動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)塔),該系統(tǒng)均可提供可重復(fù)的結(jié)果。物鏡和變焦鏡頭的各種組合使您可以選擇并優(yōu)先考慮對(duì)手頭研究更重要的內(nèi)容,包括測(cè)量視野,橫向分辨率或表面不透明度。

             

            高度直觀的用戶界面,具有的分析功能

             

            布魯克屢獲殊榮的Vision64®操作和分析軟件提供了業(yè)界功能,簡(jiǎn)化的圖形用戶界面,將智能體系結(jié)構(gòu)與直觀的可視工作流以及廣泛的用戶定義的自動(dòng)化功能相結(jié)合,可進(jìn)行快速,全面的數(shù)據(jù)收集和分析。

             

             

             

            提供面的表面測(cè)量與成像技術(shù)

            性能、操作簡(jiǎn)便的桌上型三維光學(xué)顯微鏡

             

             

            ContourGT-K三維光學(xué)顯微鏡完善了表面測(cè)量和分析的新標(biāo)準(zhǔn),這套測(cè)量系統(tǒng)擁有工業(yè)的測(cè)量性能和靈活性,采用白光干涉技術(shù),超大視野內(nèi)埃級(jí)至毫米級(jí)的垂直計(jì)量范圍,具有業(yè)界的垂直分辨率和測(cè)量重復(fù)性。

             

             

             

            憑借其*的直觀用戶界面和功能的自動(dòng)化檢測(cè)、分析功能,方便用戶快速高效的獲得材料粗糙度、二維/三維表面分析以及高分辨成像,廣泛應(yīng)用于LED、太陽(yáng)能電池、薄膜材料、MEMS、精密機(jī)械零部件、摩擦磨損等各個(gè)領(lǐng)域,滿足各種表面測(cè)量的實(shí)際需求。

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