納米顆粒跟蹤分析儀

納米顆粒跟蹤分析儀

Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術，結合經(jīng)典微電泳技術和布朗運動成為現(xiàn)代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數(shù)分析得到。

Zetaview的特點 - 全自動和無源穩(wěn)定性

自動校準程序會持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動設計提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過掃描多個子體積并進行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計結果。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。

• 自動掃描，zui多可達100個子體積；

• 自動聚焦；

• 小巧，便于攜帶；

• 防震動；

• 光源從紫外線到紅光；

• 插入式樣品池；

理論

平移擴散常數(shù)可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到。通過測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。

納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態(tài)光散射（DLS）

所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術，都存在一個問題：當顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低。動態(tài)光散射技術的zui低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其zui低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當樣品濃度太低時，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。

測量范圍

測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術的檢測下限為10nm；相應的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。

源于視頻分析的顆粒計數(shù)

顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑。可檢測的zui小濃度為10⁵粒子/cm³，zui大為10¹⁰粒子/cm³。對于200nm的顆粒，zui大體積濃度為1000ppm。

準確度和精度

Zeta電位：準確度5mv，精度4mv，重現(xiàn)性5mv；

粒度測試（對于100納米的標準乳膠顆粒）：準確度6nm，精度4nm，重現(xiàn)性4nm；

濃度測試（100納米的顆粒，濃度10Mio粒子/ml）：準確度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重現(xiàn)性1Mio/ml；

只要相機設置正確，樣品處理適當，則以上所有的數(shù)據(jù)均有效。

方法

Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。

技術參數(shù)