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[供應(yīng)]3D激光共聚焦顯微拉曼 返回列表頁
貨物所在地:上海上海市
更新時間:2025-04-17 21:00:08
有效期:2025年4月17日 -- 2025年10月17日
已獲點擊:454
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
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3D激光共聚焦顯微拉曼
高光譜分辨率,2D/3D高速拉曼/激光成像,高空間分辨率,高速全景成像,自動光譜校準(zhǔn)。
高靈敏度,高空間分辨率以及易于操作的設(shè)計
系統(tǒng)采用150mm/350mm/520mm/750mm焦距的高效全自動光譜儀—單色儀
高性能,高可靠性,緊湊型的設(shè)計使系統(tǒng)簡單宜用,非常適合科研測試
可用于對半導(dǎo)體,液晶,聚合物,藥物和生物,單分子和納米顆粒的研究
Confotec™系列可提供5種配置方案以滿足您的實驗需求
特點
模塊化設(shè)計,實驗更加靈活
高穩(wěn)定性設(shè)計,無需調(diào)整
非接觸測試,樣品無損傷
自動切換波長的激光器做拉曼光譜測量可避免熒光干擾
通過PMT和XY振鏡掃描器實現(xiàn)拉曼與瑞利散射高速同步
高速度和高空間分辨率的2D/3D全景成像(拉曼和瑞利散射)
內(nèi)置氖燈實現(xiàn)波長自動校準(zhǔn)
3D激光共聚焦顯微拉曼
MR-150 | MR-350 | MR-520 | MR-750 | |
拉曼光譜范圍 | 50-9270波數(shù) (532nm激發(fā)) | 50-9700波數(shù) (532nm激發(fā)) | ||
成像模式 | 3D(XYZ)共聚焦激光及拉曼成像 | |||
空間分辨率 | XY:500nm, Z:700nm | |||
掃描類型 | XY陣鏡掃描 XY電動位移臺 Z軸壓電陶瓷掃描 | |||
掃描速度 | 1000*1000 點/3秒(3us每點) | |||
激發(fā)光源 | 405nm,473nm,488nm,532nm,633nm,785nm可選 | |||
激光能量控制 | 計算機(jī)控制自動連續(xù)可變衰減片,0-3 OD | |||
拉曼濾光片 | 雙Edge濾光片 | |||
光譜儀類型 | 顯微鏡內(nèi)置雙通道光柵光譜儀 | 外置4光柵光柵光譜儀 | ||
光譜儀焦距長度 | 150mm | 350mm | 520mm | 750mm |
光譜分辨率 | 6.73cm-1 (1200刻線光柵) 1.52 cm-1 (階梯光柵) | 1.6cm-1 (1800刻線光柵) | 0.76cm-1 (1800刻線光柵) 0.23cm-1 (階梯光柵) | 0.44cm-1 (1800刻線光柵) |
光柵數(shù)量 | 2 | 4 | ||
雜散光抑制比 | 5*10-3 | 1*10-5 | 1*10-6 | 5.5*10-7 |
探測器 | 激光共焦成像:PMT 拉曼快速成像:PMT 拉曼光譜CCD:制冷型雙2048*64 CCD相機(jī) | 激光共焦成像:PMT 拉曼快速成像:PMT 拉曼光譜CCD:拉曼深度制冷科學(xué)級CCD | ||
其他功能選項 | 冷熱臺、光纖探頭、EMCCD用于更高速度拉曼mapping |
案例
亞微米尺度的光學(xué)研究
金剛石是非常堅硬的材料,可被廣泛用于切割或研磨工具。所以對金剛石圖層的研究,可以用以改進(jìn)其性能,因此具有高空間分辨率的測試技術(shù)將會給相關(guān)研究帶來非常大的幫助。由于金剛石的結(jié)構(gòu)特點,在測試儀器中,拉曼/光致發(fā)光光譜是對這種材料研究的一種非常好的選擇。
一個無壓力的鉆石微晶的拉曼光譜是一個位于1332cm-1的尖峰(如圖1a)。在該峰的半高全寬(FWHM)的為?1.7cm-1。該光譜形態(tài)的任何“偏差”都可能表明“應(yīng)力”的存在??梢詾槔庾V提供補償?shù)囊罁?jù),是寬帶光致發(fā)光峰(圖1b),這種峰型出現(xiàn)于NV 色心缺陷相關(guān)。峰的強度示出了在金剛石晶體缺陷的濃度。
本應(yīng)用致力于通過Confotec MR520共焦顯微拉曼和光致發(fā)光技術(shù)以改進(jìn)金剛石涂層工具的特性。鉆石微晶體的尺寸約為15 – 25um,掃描區(qū)域是150×150um(圖2),以拉曼mapping與光致發(fā)光的mapping分別進(jìn)行掃描,從圖中可以看出,金剛石晶粒的分布是基本均勻的,NV缺陷的分布是不均勻的,一些晶粒包含了一些小數(shù)量的缺陷,在圖中用白色圓圈標(biāo)出。
圖3的掃描區(qū)域為70x70um,3a為CCD的拍攝圖,3b為拉曼的mapping,此次的測試與圖2的測試有相似之處,金剛石晶粒的分布是均勻的(如3a與3b),有代表性的,是其中的缺陷組成(如3d)。我們從3c中可以看出帶有應(yīng)力的晶粒分布,顯示為紅色的部分是帶有應(yīng)力的區(qū)域,帶有應(yīng)力的微晶體在圖中用虛線畫出。
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