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美國Solar System SMX-BEN膜厚儀
太陽能光伏分析儀
元素分析儀
測厚儀,膜厚儀
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
SMX-BEN臺式X射線熒光光譜薄膜成分、薄膜厚度測量系統(tǒng)
如需更詳細(xì)資料或報價請資詢：
Web: www.eastco-hk。。ｃｏｍ
產(chǎn)品特色∶
1.針對薄膜太陽能電池生產(chǎn)過程研發(fā)、工藝開發(fā)、失效分析過程而設(shè)計，有效減低成本，提供產(chǎn)品品質(zhì)。
2.超大樣品室，高：56厘米、寬：54厘米、長：74厘米。
3.針對CIGS各種鍍層材質(zhì)的*濾波器，共5種
4.樣品臺X-Y-Z三軸自動定位，移動范圍20 x 20 x 15cm，帶防撞保護、自動聚焦、LED燈照明功能。
5.微聚焦、帶鈹窗、高性能X射線源
6.采用高科技的高靈敏度的硅PIN檢測器，靈敏度高，壽命長。
7.配多規(guī)格圓形及矩形電機驅(qū)動定位準(zhǔn)直器
8.輻射安全保護裝置
9.Mira XRF軟件系統(tǒng)功能強大，具備數(shù)據(jù)分析、傳輸及以太網(wǎng)功能
SMX-BEN 屬高階的薄膜太陽能電池分析儀
薄膜太陽能電池CIGS/CdTe分析儀
可分析范圍：
（1）分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時測量。
（2）分析CdTe之各鍍層的厚度及成份同時測量。
（3）三、五族元素各鍍層的成分比例及厚度分析
技術(shù)參數(shù)
zui大50kV，多段電壓切換
4-1000μA，可做自動調(diào)整設(shè)定
共五個濾波器，自動切換
電冷式偵測器
