您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
淺析X射線熒光分析儀的自動定性定量分析
閱讀：297 發(fā)布時間：2019-10-27
淺析X射線熒光分析儀的自動定性定量分析
X射線熒光分析儀采用*的硅SIPIN探測器(分辨率為150ev)，實(shí)現(xiàn)了無液態(tài)氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，zui大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達(dá)到同樣的激發(fā)效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數(shù)的準(zhǔn)確性，重復(fù)性。
自動定性分析
A、自動過濾背景
X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結(jié)果的干擾，
從而能確保對任何塑料樣品的進(jìn)行快速準(zhǔn)確的分析。
B、自動剝離重疊峰
當(dāng)某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由
此產(chǎn)生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
C、自動補(bǔ)償逃逸峰
逃逸峰:X射線熒光分析儀由于采用的是Si針半導(dǎo)體探測器，因此當(dāng)X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素
的含量較高(能量也會相應(yīng)的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量
值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個峰，此峰即為逃逸峰。
D、自動追蹤譜圖漂移
在電壓不穩(wěn)的情況下，可對掃描譜圖的漂移進(jìn)行自動追蹤補(bǔ)償。
定量分析
A，F(xiàn)P基礎(chǔ)參數(shù)法
B，標(biāo)準(zhǔn)法
C，X射線熒光分析儀1點(diǎn)校正