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            耐壓測(cè)試與絕緣阻抗測(cè)試之間有什么不同呢?

            閱讀:8910      發(fā)布時(shí)間:2016-5-4
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            絕緣阻抗(IR)測(cè)試是一種定性測(cè)試,提供絕緣系統(tǒng)的相對(duì)質(zhì)量的一個(gè)表示。測(cè)試時(shí)通常用500V或1000V的DC 電壓進(jìn)行,結(jié)果用兆歐電阻(MΩ)來(lái)度量。


             

            耐壓測(cè)試(Hi-Pot)測(cè)試則是一種定量測(cè)試,同樣也給DUT施加高壓,但所加電壓比絕緣阻抗(IR)測(cè)試的高;而且視不同要求可以在AC或DC電壓下進(jìn)行。結(jié)果則用毫安(mA)或微安(uA)來(lái)度量。

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