產品簡介
詳細介紹
,帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀 三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,HyperQVWLI 606帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據(jù)WLI光學系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
,帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀 三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,HyperQVWLI 606帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據(jù)WLI光學系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。