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產品簡介
,帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀 三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,HyperQVWLI 606帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
詳細介紹
,帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀 三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,HyperQVWLI 606帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
,帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀 三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,HyperQVWLI 606帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
產品特點與優(yōu)勢
HYPER QV WLI配備白光干涉儀的復合型高精度3D測量系統。
可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
產品陣容
型號
測量范圍：
X軸最大（mm） Y軸最大（mm） Z軸最大（mm）
Hyper QVWLI 302 300 200 190
Hyper QVWLI 404 400 400 240
Hyper QVWLI 606 600 650 220