目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>光電學(xué)測試系統(tǒng)>> 雙光束激光干涉儀 aixDBLI
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣 |
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雙光束激光干涉儀 aixDBLI
(Double Beam Laser Interferometer)
雙光束激光干涉儀專門用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測試。
這一臺適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。
半自動的系統(tǒng)用于8"晶圓上的MEMS器件的壓電性和電性相關(guān)性能的測試。
大量樣品測試的重復(fù)精度可達(dá)2%以上。
測試功能：
機電大信號應(yīng)變、極化、壓電系數(shù)、小信號介電常數(shù)。
疲勞和電性及機械性能可靠性。
樣品測試：
極化曲線和位移曲線。
小信號電容及壓電系數(shù)。
技術(shù)參數(shù)：
分辨率： ≤1 pm（X晶向的石英）
測量范圍：5pm- +/- 25nm
波長：632.8nm
位移/應(yīng)力測試：>50Hz，最小1Hz分辨率，100mV到10V（可選到200V）
壓電d33系數(shù)：
基電壓100mV到10V（1mHz到1Hz），可選到200V
小信號100mV到10V（1kHz到5kHz）
C-V測試：
基電壓100mV到10V（1mHz到1Hz），可選到200V
小信號100mV到10V（1kHz到5kHz）
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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