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            技術(shù)文章

            掃描電鏡SEM掃描電子顯微鏡JSM-it100(A)

            閱讀:9180          發(fā)布時間:2016-9-1

            掃描電子顯微鏡JSM-it100(A)主要特長

            標準配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡                                          

            標準配置EDS分析功能的JSM-IT100A,不僅能獲取高分辨率的圖像,還采用了無需液氮制冷的EDS檢測器 (DRY SD),能夠進行定性分析、定量分析、元素面分布。此外,搭載的大型全對中形樣品臺可以對應(yīng)各種樣品。

             

            電子光學系統(tǒng)                                                

            JSM-IT100A是日本電子株式會社推出機型,沿襲日本電子的電子光學系統(tǒng),集合了分析掃描電鏡精髓功能,設(shè)計精簡自動化程度高。

             

            使用多點觸摸屏,操作舒適                                            

            JSM-IT100A通過多點觸控技術(shù)和的操作軟件,操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能,舒適便捷。新開發(fā)的操作界面簡明易懂,即使是SEM新手也能輕松獲得高品質(zhì)的SEM圖像,進行EDS元素分析。

            主要參數(shù):

            放大倍數(shù): ×5~×300,000 

            探測器:二次電子探測器/半導體背散射電子探測器

            加速電壓:0.5KV ~ 20KV

            zui大樣品尺寸:直徑150mm高度為48mm的樣品

            探測器:電制冷方式BOX-SDD探測器 -無需使用液氮

            標準搭載功能:

            Qualitative Analysis 定性分析

            Quantitative Analysis 定量分析

            Active Mapping 活區(qū)面分析

            Point Analysis   點分析

            Probe Tracking 束流追蹤

             

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