DualScope MP0袖珍測厚儀校準(zhǔn)

一、零位校準(zhǔn)  歸一化

歸一化用來對(duì)測量儀器進(jìn)行調(diào)整。歸一化需要未鍍過的底材，而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件*。

說明：歸一化會(huì)刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。

歸一化儀器 (前提: 儀器處于開啟狀態(tài))

• 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材”).
• 在底材上測量五次左右
  每次測量后，會(huì)顯示當(dāng)前的讀數(shù)。
• 按兩次[OK] 鍵.
  屏幕顯示 “Er17”，忽略它。
  完成歸一化程序。

二、  校準(zhǔn)

校準(zhǔn)需要有下面幾項(xiàng)東西：底材（形狀和底材物料要與待測部件*）和一片標(biāo)準(zhǔn)片(儀器隨機(jī)的75 µm左右標(biāo)準(zhǔn)片)。 說明：校準(zhǔn)將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。

校準(zhǔn)儀器（前提：儀器必須打開）

• 按 [CAL]鍵。
  顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材”)
• 在底材上測量五次左右.
  每次測量后，會(huì)顯示當(dāng)前的讀數(shù)。 
• 按 [OK]鍵.  
  顯示 0.00 和 STD1 (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 # 1).
• 把校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片放在底材上，并測量5次左右。
  每次測量后，屏幕上會(huì)顯示當(dāng)前讀數(shù)。
• 用 [5] 或 [6]鍵調(diào)整第4步的zui后一個(gè)數(shù)值至標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值， 如“75 µm”。 標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值注明在標(biāo)準(zhǔn)片上。
• 按 [OK]鍵。
  完成校準(zhǔn)程序. 儀器返回測量狀態(tài).

7 刪除校準(zhǔn)資料 / 恢復(fù)初始曲線

有時(shí)，如果經(jīng)過校準(zhǔn)后，儀器測量仍然不準(zhǔn)確，則可以刪除校準(zhǔn)參數(shù)。如果先前的校準(zhǔn)程序沒有正確進(jìn)行的話，就可能會(huì)發(fā)生這種情況。
在這種情況下，可以把特征曲線恢復(fù)到原始的出廠設(shè)定。

刪除儀器的校準(zhǔn)參數(shù) （前提：儀器必須打開）

• 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材”) .
• 在底材上測量5次左右.
• 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 # 1) .
• 在底材上測量1次.
  屏幕將顯示0左右的讀數(shù).
• 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調(diào)整到 0.00 .
  屏幕將顯示 “0.00   STD1” .
• 按 [OK] 鍵。恢復(fù)到初始的特征曲線。 
  恢復(fù)完成。 儀器現(xiàn)在可以測量了。

1、校正 
按下，屏幕“校正”位置相對(duì)應(yīng)的按鈕。 
請(qǐng)注意需要使用未鍍過的底材，而且底材的形狀和材質(zhì)必須和被測量的工件*。 
（1）正?；▋x器歸零）→ 按OK鍵進(jìn)入→ 按屏幕提示測量底材（基材）3-5次→按OK鍵確認(rèn)→屏幕顯示“正
常完成成功”，再次按OK鍵完成。 
（2）校正→按屏幕提示測量底材（基材）3-5次，不建議按屏幕中的“跳過”鍵跳過→按OK鍵確認(rèn)→把標(biāo)準(zhǔn)片
放在前面的基材上，測量標(biāo)準(zhǔn)片 3-5 次→按“設(shè)置”鍵→進(jìn)入設(shè)置界面后按↑↓鍵調(diào)整數(shù)值直到和標(biāo)準(zhǔn)片相同→按
“OK”鍵確定→以上步驟確認(rèn)無誤后再按“OK”鍵至第二片標(biāo)準(zhǔn)片→校正步驟同*片→按“OK”確認(rèn)。 
（儀器只附帶一片標(biāo)準(zhǔn)片，第二片時(shí)可以直接跳過；如客戶有多塊標(biāo)準(zhǔn)片，校正時(shí)請(qǐng)按從薄到厚的順序進(jìn)行校正。） 
（3）簡易校準(zhǔn)→在基材上測量200um以上的標(biāo)準(zhǔn)片3-5次左右，并設(shè)置相應(yīng)數(shù)值→按“OK”鍵完成。（此功能
只適合200um以上的涂鍍層使用） 
（4）刪除校正 

10 儀器及附件的訂貨資料