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產品簡介
自動識別底材
DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀能夠通過外部觸發(fā)測量（例如：測量直徑很小的空心圓柱體的內壁）
使用未知材料的鍍層進行校準（僅限于磁感應法）
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀配備 USB接口可以連接計算機和打印機
膜厚儀能夠手動糾正已儲存的讀數
膜厚儀包含應用程式關聯(lián)功能：多個應用程式能使用相同的歸
產品介紹
菲希爾FMP40測厚儀測量誤差和重復精度
- 自動識別底材
- DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀能夠通過外部觸發(fā)測量（例如：測量直徑很小的空心圓柱體的內壁）
- 使用未知材料的鍍層進行校準（僅限于磁感應法）
- 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀配備 USB接口可以連接計算機和打印機
- 膜厚儀能夠手動糾正已儲存的讀數
- 膜厚儀包含應用程式關聯(lián)功能：多個應用程式能使用相同的歸一化/校準信息
- 通過電腦計算機可以編輯應用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）
- 擁有數據組統(tǒng)計值和所有數據統(tǒng)計值
- 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀能夠展現測量數據直方圖顯示
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀電渦流方法：
通過探頭的激勵電流產生一個高頻初級磁場區(qū)域，該磁場在基材內產生感生電渦流，次級磁場區(qū)域削弱初級磁場區(qū)域，削弱影響相當于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲存在儀器內的探頭特征曲線將削弱影響轉換為涂鍍層厚度值顯示出來。
測量原理 | 磁性測厚法，能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量 | 電渦流法測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度 |
探頭型號 | FGA1.3磁感應探頭 | FTA3.3H電渦流探頭 |
測量范圍μm | 0 ～ 1500μｍ，測量精度： 0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～1000μｍ，± 0.5 ％； 1000～1500μｍ， < 2.5%。 | 0 ～ 1 200μｍ。測量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～800μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5% |
重量g | 230 | 230 |
規(guī)格 | (160 x 80 30) | (160 x 80 x 30) |
儀器主要技術參數：
設備型號 | DUALSCOPE FMP100 |
選配探頭 | 雙功能探頭Probe FD10： 用于根據磁感應和渦流方法來測量涂鍍層厚度，帶微處理芯片的智慧型插入式探頭，彈性測量系統(tǒng)。 電纜長度：1.5m（5 feet） |
分辨率 | 0.1um |
測量應用及測量范圍 | 0-1300um NF/Fe 0-800um ISO/NF |
測量方法 | 磁感應/渦流法 自動識別 |
測量誤差 以Fischer標準片為準 | NF/Fe 0-50um：≤0.5um 50-1300um：≤1% ISO/NF 0-100um：≤0.5um 100-800um：≤1% |
重復精度 以Fischer標準片為準 | 0-100um：≤0.25um 100-1300um：≤0.5% |
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