狠狠色丁香久久综合婷婷亚洲成人福利在线-欧美日韩在线观看免费-国产99久久久久久免费看-国产欧美在线一区二区三区-欧美精品一区二区三区免费观看-国内精品99亚洲免费高清

            篤摯儀器(上海)有限公司

            中級會員·10年

            聯(lián)系電話

            17321352692

            您現(xiàn)在的位置: 篤摯儀器(上海)有限公司>>德國Fischer菲希爾>>Fischer測厚儀>> Couloscope CMS2 STEPFischer*臺式測厚儀庫倫測量法
            Couloscope CMS2 STEPFischer*臺式測厚儀庫倫測量法
            參考價: 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • Couloscope CMS2 STEP 產品型號
            • Helmut Fischer/德國菲希爾 品牌
            • 代理商 廠商性質
            • 上海市 所在地

            訪問次數(shù):990更新時間:2024-09-27 08:23:07

            聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
            產品簡介
            價格區(qū)間 面議 應用領域 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件
            Fischer*臺式測厚儀庫倫測量法
            庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
            產品介紹

            Fischer*臺式測厚儀庫倫測量法

            CouloScope CMS STEP電解測厚儀簡介:
             德國菲希爾涂層測厚儀CouloScope CMS STEP在電鍍行業(yè)中,對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層間足夠的電位差導致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度,并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。 COULOSCOPE® CMS STEP多層鎳測厚儀器根據(jù)庫侖電量分析法進行測量,符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標準
             通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學的電位差進行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。
             COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉換到PC電腦中。
             CouloScope CMS STEP電解測厚儀特性:
             吸引人的設計,大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
             操作簡單,菜單指引的操作提示。
             電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
             大約100個預先定義好的應用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層,包括測量線材。

            典型應用:
            電鍍緊固件
            測試印刷電路板上殘留的純錫含量
            鍍鉻浴室配件
            測量常見的單相以及雙相涂層,如鐵上的ZN或銅上的SN / NI
            金屬涂層的準確測量厚度品種為0.05 - 50m,不需要預先設置幾種材料; 基底組成以及幾何形狀也與測量過程無關
            測量印刷電路板上純錫的剩余部分,以確??珊感?br />多層涂層,如鐵/塑料(abs)基板上的CR / NI / CU

             

            電位差測厚儀Couloscope CMS2 STEP

            使用5 x 5個單獨測量的測試區(qū)域校準測量系統(tǒng)的標準

            作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一,庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構, 當允許破壞性測 量時,它提供了一個比 X 射線更經(jīng)濟的替代方法。 

            很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了準確的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內, 很多 材料不需要預設定;基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關緊要的。 
             
            zui常見的應用之一就是測量線路板上剩余的純錫,以確 ??珊感?。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料(ABS) 基材上,經(jīng)常被用于高品質的浴室用品,也可以用這個方法進行測量

             



            會員登錄

            ×

            請輸入賬號

            請輸入密碼

            =

            請輸驗證碼

            收藏該商鋪

            X
            該信息已收藏!
            標簽:
            保存成功

            (空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)

            常用:

            提示

            X
            您的留言已提交成功!我們將在第一時間回復您~
            產品對比 二維碼

            掃一掃訪問手機商鋪

            對比框

            在線留言