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膜厚儀在運用涂層測厚儀測量時盡量運用被測材質(zhì)來作為調(diào)零的基體，以防止因為不同的材質(zhì)而致使導(dǎo)磁性不同，而呈現(xiàn)測量誤差。等到在被測材質(zhì)的同一部位調(diào)零以后，再實行一樣部位的測量，如在側(cè)臉工件邊緣及中間部分時當分別調(diào)零。
在應(yīng)用膜厚儀儀實行測量時還該當注意探頭和被測料面維持垂直，以免發(fā)生大的誤差。若是測量的同一個點，可將探頭每次都離開10公分以上，間隔幾秒后再實行測量，以免被測材質(zhì)探頭磁化而影響測量結(jié)果。
膜厚儀作為調(diào)零用的外表面須要盡量維持光滑，假如外表面不光滑，該當視狀況取平均值，由于外表面粗糙度對測量的數(shù)值影響較大。構(gòu)造不同應(yīng)分別實行調(diào)零測量，平面調(diào)零側(cè)臉平面，測量凹面調(diào)零后測量，測量凸面調(diào)零后實行測量，防止因為構(gòu)造不同而在測量上發(fā)生誤差。
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