PhysiTest Elektrophysik代理現(xiàn)貨

濕膜厚度在實(shí)際中具有參考性和指導(dǎo)意義。濕膜厚度與干膜厚度的關(guān)系如下：
濕膜厚度=所需的干膜厚度/涂料固體成分的體積百分比
濕膜厚度=（所需的干膜厚度/涂料固體成分的體積百分比）*（100%+添加的稀釋劑百分比）
注：涂料的固體成分百分比可根據(jù)所用涂料的參數(shù)確定。

PhysiTest Elektrophysik代理現(xiàn)貨
 
濕膜輪測(cè)厚儀Wet Film Thickness
 
PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀可以用于測(cè)量平坦或彎曲表面的濕膜厚度。
 
PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀由兩個(gè)外同心輪和一個(gè)內(nèi)偏心輪組成。
 
當(dāng)濕膜輪在涂層表面滾動(dòng)時(shí)，內(nèi)輪接觸并粘起濕膜時(shí)所對(duì)應(yīng)的刻度即為濕膜厚度。
 
PhysiTest為不同要求提供三種基本規(guī)格產(chǎn)品。
產(chǎn)品信息
 
     型號(hào)               名稱                      量程
PhysiTest15201          濕膜輪                   0-100μm 
 
PhysiTest15202          濕膜輪                   0-200μm 
 
PhysiTest15203         濕膜輪                   200-700μm
 
尺寸：直徑50mm×寬27mm
 
重量：0.35Kg
德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板G、F、S3、S5兩件套   德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板NiFe50/NI50兩件套   德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板NiFe50/NI50四件套   德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板G、F、S3、S5四件套   測(cè)頭FH 10  EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7200   FH4探頭   測(cè)頭FH 4.1   EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7400   EPK涂層測(cè)厚儀探頭Printer MiniPrint7000  A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC    超聲波測(cè)厚儀TT130   超聲波測(cè)厚儀TT120   高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7DL   高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7   A/B掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX   超聲波測(cè)厚儀TT100   高精密超聲波測(cè)厚儀CL400探頭   帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX   高精密超聲波測(cè)厚儀CL5