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            篤摯儀器(上海)有限公司

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            ElektroPhysik測厚儀MINITEST 730涂層厚度測試儀

            參考價(jià)面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào):

            品       牌: ElektroPhysik/德國EPK

            廠商性質(zhì):代理商

            所  在  地:上海市

            更新時(shí)間:2023-11-07 17:29:29瀏覽次數(shù):925

            聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)
            ElektroPhysik測厚儀MINITEST 730涂層厚度測試儀
            MINITEST 3100涂層鍍層測厚儀測量鋼鐵基體上的非磁性覆層,有色金屬上的絕緣覆層,絕緣基體上的有色金屬覆層。

             

            ElektroPhysik測厚儀MINITEST 730涂層厚度測試儀

             


            MiniTest涂層測厚儀功能

            型號(hào)

            1100

            2100

            3100

            4100

            MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
            應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

            1

            1

            10

            99

            每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值)

            -

            1

            10

            99

            可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)

            -

            1

            500

            500

            數(shù)據(jù)總量

            1

            10000

            10000

            10000

            MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
            讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

            -

            讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

            -

            -

            組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar

            -

            -

            組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

            -

            -

            存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

            -

            -

            -

            分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值

            -

            -

            顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間

            -

            其他功能
            設(shè)置極限值

            -

            -

            連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識(shí)別zui大zui小值

            -

            -

            連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

            -

            -

            連續(xù)測量模式中顯示zui小值

            -

            -


            MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù)
            所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
            F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
            N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
            FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

            探頭

            量程

            低端
            分辨率

            誤差

            zui小曲率
            半徑(凸/凹)

            zui小測量
            區(qū)域直徑

            zui小基
            體厚度

            探頭尺寸



            應(yīng)

             

             

             

             

             

             

             

            F05

            0-500μm

            0.1μm

            ±(1%±0.7μm)

            1/5mm

            3mm

            0.2mm

            φ15x62mm

            F1.6

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            0.5mm

            φ15x62mm

            F1.6/90

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            平面/6mm

            5mm

            0.5mm

            φ8x8x170mm

            F3

            0-3000μm

            0.2μm

            ±(1%±1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            0.5mm

            φ15x62mm

            F10

            0-10mm

            5μm

            ±(1%±10μm)

            5/16mm

            20mm

            1mm

            φ25x46mm

            F20

            0-20mm

            10μm

            ±(1%±10μm)

            10/30mm

            40mm

            2mm

            φ40x66mm

            F50

            0-50mm

            10μm

            ±(3%±50μm)

            50/200mm

            300mm

            2mm

            φ45x70mm



             

             

             

            FN1.6

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            F0.5mm
            N50μm

            φ15x62mm

            FN1.6P

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            平面

            30mm

            F0.5mm
            N50μm

            φ21x89mm

            FN2

            0-2000μm

            0.2μm

            ±(1%±1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            F0.5mm
            N50μm

            φ15x62mm




             

             

             

             

             

             

             

             

             

            N02

            0-200μm

            0.1μm

            ±(1%±0.5μm)

            1/10mm

            2mm

            50μm

            φ16x70mm

            N.08Cr

            0-80μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            2.5mm

            2mm

            100μm

            φ15x62mm

            N1.6

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            1.5/10mm

            2mm

            50μm

            φ15x62mm

            N1.6/90

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            平面/10mm

            5mm

            50μm

            φ13x13x170mm

            N10

            0-10mm

            10μm

            ±(1%±25μm)

            25/100mm

            50mm

            50μm

            φ60x50mm

            N20

            0-20mm

            10μm

            ±(1%±50μm)

            25/100mm

            70mm

            50μm

            φ65x75mm

            N100

            0-100mm

            100μm

            ±(1%±0.3mm)

            100mm/平面

            200mm

            50μm

            φ126x155mm

            CN02

            10-200μm

            0.2μm

            ±(1%±1μm)

            平面

            7mm

            無限制

            φ17x80mm

            注:

            F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
            N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
            CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

             

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