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MiniTest 4100測厚儀上海現(xiàn)貨代理（主機+探頭）
1、參數(shù)
- 應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù))99
- 每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設寬容度極限值)99
- 可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)500
- 數(shù)據(jù)總量10000個
- 讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
- 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數(shù)
2、應用：
德國EPK公司MINITEST 4100用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：
- 鋼鐵基體上的非磁性覆層
- 有色金屬上的絕緣覆層
- 絕緣基體上的有色金屬覆層
3、產(chǎn)品特點：
- 適用于多種應用的耐磨探頭
- 具有幾乎無限壽命的耐磨探頭
- 測量值的存儲與評估
- 特殊的粗糙表面和校準標定函數(shù)未知涂層(CTC方法)
- 所有的探頭都配備了耐磨桿，確保使用壽命長，也適用于磨料基板。
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
- 可使用一片或二片標準箔校準
4、探頭
探頭是涂層測厚儀的核心部件。 為了滿足我們客戶的各種要求，zui常見應用的探頭是我們系列產(chǎn)品的一部分。 對于特殊的測量任務，可提供客戶制造的探頭。
ElektroPhysik探頭是現(xiàn)代生產(chǎn)技術以及60多年來表面處理技術的結合。
智能探頭
ElektroPhysik開發(fā)了一種“智能探頭”的概念，如果測量任務改變，允許與連接到相同規(guī)格的另一個探頭一起工作。
探頭的特性曲線存儲在探頭連接器中，并由儀表的微處理器進行評估。 因此可以編程給客戶應用的特性曲線，例如， G。 特殊合金，特殊幾何形狀等。
外層保護
為了生產(chǎn)其探頭，ElektroPhysik使用來自鐘表領域的精密生產(chǎn)程序。 為了確保長壽命，探頭通過結構特征進行保護，因此即使在使用多年后也能避免磨損痕跡。 使用材料例如 紅寶石，硬金屬或用于工具制造的特殊合金保護接觸測量桿免受磨損。 測量極的表面被拋光，因此提供甚至在敏感的測量對象上測量，而不留下任何痕跡。
新開發(fā)的通用探頭
特別是對于在鋼鐵和有色金屬上進行測量的用戶，ElektroPhysik提供新開發(fā)的FN通用探頭，它只用一個探頭解決測量任務
彎曲表面的磁通線 粗糙表面的磁通線
特殊功能
當在彎曲表面上進行測量時，探針可以通過校準適應待測量物體的幾何形狀。
因此消除了幾何形狀對測量值的影響。
當在粗糙表面上進行測量時，MiniTest的特殊功能用于補償由于物理原因導致的較高測量不確定性。
對于在高溫表面上的測量，可以使用特殊的探頭，其可以短時間用于高達350℃的溫度。
5、主機技術參數(shù)
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | |
應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù))99 | 10 |
每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設寬容度極限值) | 10 |
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) | 500 |
數(shù)據(jù)總量 | 10000 |
MINITEST統(tǒng)計計算功能 | |
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | √ |
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ |
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | √ |
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ |
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數(shù)據(jù) |
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分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 | √ |
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | √ |
其他功能 | |
設置極限值 | √ |
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別***大***小值 | √ |
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | √ |
連續(xù)測量模式中顯示***小值 |
|
6、探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探 頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | zui小曲率 | zui小測量 | zui小基 | 探頭尺寸 | |
磁
| F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
兩
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm | φ21x89mm | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm | |
電
| N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm | |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm | |
篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產(chǎn)線、質量控制和教育事業(yè)，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術的精益求精。
注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。 |
：張磊
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