GALVANOTEST2000庫倫Elektrophysik基本型號測厚儀

GalvanoTest 2000庫倫測厚儀是基本型號，可測量各種涂層/基底組合，無需任何附件。設計為易于使用，這種模式zui受推薦用于測量多層應用。

●幾乎測量任何電鍍涂層/基底組合

●適用于單層和多層涂層

●使用庫侖法原理，符合DIN 50 955和ISO 2177的去鍍方法也適用于0.05微米的極薄涂層

庫侖或陽極去鍍技術用于測量幾乎所有基材如鋼，有色金屬或絕緣材料基材上的電鍍涂層的厚度。 典型應用包括：鋼上鎳，鋼上鋅，銅錫，銀銅或環(huán)氧樹脂。

統(tǒng)計計算

顯示6種統(tǒng)計值：均值、標準偏差、變異系數(shù)、zui大、zui小值、讀數(shù)個數(shù)

立即或稍后顯示統(tǒng)計值

顯示、打印年、月、日、時、分

用于外設的計算機接口：

MINIPRINT 微型打印機接口

RS-232，PC計算機接口

連接x-t計錄儀模擬電壓輸出接口

篤摯代理出售的德國EPK GALVANOTEST2000庫倫測厚儀主要是針對一些塑料、薄膜等行業(yè)的一些電鍍件，可測實際應用的所有鍍層，比如說，塑料上鍍鋅、鍍銀、鍍銅等，GALVANOTEST 2000可以測試單層或多層鍍層的厚度。利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層，符合標準：DIN EN ISO 2177，儀器斷電后可保持所有校準值、讀數(shù)、統(tǒng)計值。

GalvanoTest 2000，應用庫侖電量分析原理。其過程類似于電鍍，但電化學反應的方向相反，是電解除鍍?？梢杂糜跍y量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?；w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。
測量時只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響。庫侖法確保測量結果準確、可靠，儀器使用簡便。測量操作由儀器的指令自主完成，操作者不需要專業(yè)知識。

技術數(shù)據(jù)：

測量范圍：zui大測量范圍：0.05-75μm

測量范圍：0.05～75μm
可以測量70種以上的鍍層/基體組合
可以測量平面、曲面上的鍍層
可以測量小零件、導線、線狀零件
預置10種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鑷、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金
用戶可另設8種金屬的測量參數(shù)
測量面積：0.25/4/8mm2
存儲：2000個讀數(shù)和統(tǒng)計值
統(tǒng)計功能：平均值、標準偏差、變異系數(shù)、zui大、zui小、讀數(shù)個數(shù)
接口：RS232接口可連接計算機和打印機

公司簡述：

篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產品資源和服務，涵蓋光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設備，努力為客戶解決日新月異的測量分析技術挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標。

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