ElektroPhysik測厚儀-MINITEST 3100
校準有五種不同的方法：
1.標準校準：推薦用于均勻表面上的測量，如果物體與ElektroPhysik零板具有相同的材料，尺寸和沖擊度。
2.單點校準（無需使用振動箔調(diào)零）：如果允許誤差p為±（讀數(shù)的3％*加上探頭的常數(shù)誤差），則推薦使用。 （恒定探針的實例：F.1.6：1μm）。
3.兩點校準（使用校準箔進行校準和校準）：如果預

ElektroPhysik測厚儀-MINITEST 3100

（一）校準有五種不同的方法：
1.標準校準：推薦用于均勻表面上的測量，如果物體與ElektroPhysik零板具有相同的材料，尺寸和沖擊度。
2.單點校準（無需使用振動箔調(diào)零）：如果允許誤差p為±（讀數(shù)的3％*加上探頭的常數(shù)誤差），則推薦使用。 （恒定探針的實例：F.1.6：1μm）。
3.兩點校準（使用校準箔進行校準和校準）：如果預期的讀數(shù)將接近校準值，則推薦探針的允許誤差為±（1％... 3％讀數(shù)*（根據(jù)探頭）加恒定探頭誤差）*參照實驗室條件下提供的校準標準。
4.兩點校準（使用一組兩個校準箔）：

•     a）推薦用于粗糙表面上的測量。

•     b）如果要預期的厚度在兩個校準箔的厚度之間，建議在光滑表面上進行測量。

5.通過涂層（CTC）進行校準：使用校準箔校準。如果測試樣品被涂覆并且沒有未涂覆的樣品可用于比較，則推薦使用。該方法適用于以下探針：F05，F(xiàn)1.6，F(xiàn)3和FN1.6（僅含鐵部件），F(xiàn)1.6 / 90，F(xiàn)2 / 90，F(xiàn)10，F(xiàn)20和F50。

（二）存儲校準值
如果儀表為特定目的進行校準，則校準值將存儲在存儲器中，直到更改為止（參見4.1.8校準值的穩(wěn)定性）。如果要對某個探頭進行校準，只需進行重新校準即可。 這將自動刪除以前的校準值，并保存新的校準值以便立即使用。

校準程序應從頭開始重新啟動，如果

• 讀取不正確

• 輸入了不正確的命令

• 儀表已關閉

（三）校準示例
校準是測量的重要的要求。 校準樣品與產(chǎn)品樣品匹配越緊密，校準越準確，因此讀數(shù)越高。 例如，如果要在鋼瓶上測量產(chǎn)品，則質(zhì)量ST37（軟鋼），?6 mm，未涂覆樣品的校準必須在相同質(zhì)量的鋼制圓筒上進行，直徑相同。
校準樣品必須以下列方式對應產(chǎn)品樣品：

• 曲率半徑

• 基材特性

• 基板厚度

• 測量面積大小

• 進行校準的點

校準樣品必須始終與產(chǎn)品本身的測量點相同，特別是在小零件的拐角和邊緣的情況下。 精準臺在這里將是無價的。 有關詳細信息，請參閱技術數(shù)據(jù)。